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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 8/2013

01.08.2013

Effects of MgO/CaO on the structural, thermal and dielectric properties of aluminoborosilicate glasses

verfasst von: Xuehong Zhang, Yunlong Yue, Haitao Wu

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 8/2013

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Abstract

Glasses with compositions xMgO-(20−x)CaO-10Al2O3-20B2O3-50SiO2 (x = 0, 5, 10, 15 and 20 mol%) were prepared by conventional melting method. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) results indicated that the proportion of non-bridging oxygen increased with increasing MgO content. Nuclear magnetic resonance spectra showed that the fraction of the four-coordinated boron ions N4(B) and aluminum ions N4(Al) decreased with increasing MgO/CaO. Thus, higher field strength cations were expected to weaken the glass network. However, the increase in the glass transition temperature (Tg) indicated that the magnesium ions strengthened the glass network. The decrease in dielectric constant εr and loss tanδ could be attributed to the increase in the rigidity of the glass network as the MgO content increased.
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Metadaten
Titel
Effects of MgO/CaO on the structural, thermal and dielectric properties of aluminoborosilicate glasses
verfasst von
Xuehong Zhang
Yunlong Yue
Haitao Wu
Publikationsdatum
01.08.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 8/2013
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-013-1166-6

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