Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 6/2014

01.06.2014

Effect of Ni, Bi concentration on the microstructure and shear behavior of low-Ag SAC–Bi–Ni/Cu solder joints

verfasst von: Yang Liu, Fenglian Sun, Yang Liu, Xuemei Li

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 6/2014

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

This paper investigated the effect of Bi, Ni concentration on the microstructure and interfacial intermetallic compounds of low-Ag Sn–0.7Ag–0.5Cu–xBi–yNi/Cu solder joints by comparing with Sn–0.7Ag–0.5Cu (SAC0705)/Cu and Sn–3Ag–0.5Cu (SAC305)/Cu. Meanwhile, the shear behavior of the solder joints at both the bulk solder and soldering interface with various Bi, Ni content were also studied. Experimental results indicated that SAC0705–3.5Bi showed coarse microstructure due to the excessive growth of β-Sn dendritic crystal, which can be obviously suppressed by small amount of Ni element addition. Needle-like (Cu, Ni)6Sn5 appeared in the bulk solder of SAC–Bi–Ni/Cu, instead of the pipe-like Cu6Sn5 in SAC/Cu. Compare with SAC0705/Cu and SAC305/Cu, SAC–Bi–Ni/Cu showed higher shear strength at both the bulk solder and soldering interface. The increase of Bi content significantly increased the shear strength of Sn–0.7Ag–0.5Cu–xBi–yNi/Cu solder joints at the soldering interface. Brittle fracture appeared in the bulk solder of Sn–0.7Ag–0.5Cu–3.5Bi–0.05Ni/Cu solder joint. But this brittle failure can be suppressed by increasing the concentration of Ni in the solder alloys.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
2.
Zurück zum Zitat M. Sona, K.N. Prabhu, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 24(9), 3149 (2013)CrossRef M. Sona, K.N. Prabhu, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 24(9), 3149 (2013)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat H.R. Kotadiaa, O. Mokhtaria, M.P. Clodeb, M.A. Greena, S.H. Mannana, J. Alloys Compd. 511(1), 176 (2012)CrossRef H.R. Kotadiaa, O. Mokhtaria, M.P. Clodeb, M.A. Greena, S.H. Mannana, J. Alloys Compd. 511(1), 176 (2012)CrossRef
4.
5.
Zurück zum Zitat D.A.A. Shnawah, M.F.B.M. Sabri, I.A. Badruddin, Microelectron. Int. 29(1), 47 (2012)CrossRef D.A.A. Shnawah, M.F.B.M. Sabri, I.A. Badruddin, Microelectron. Int. 29(1), 47 (2012)CrossRef
6.
Zurück zum Zitat F. Cheng, F. Gao, J. Zhang, W. Jin, X. Xiao, J. Mater. Sci. 46(10), 3424 (2011)CrossRef F. Cheng, F. Gao, J. Zhang, W. Jin, X. Xiao, J. Mater. Sci. 46(10), 3424 (2011)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat Y. Liu, F.L. Sun, H.W. Zhang, P.F. Zou, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 23(9), 1705 (2012)CrossRef Y. Liu, F.L. Sun, H.W. Zhang, P.F. Zou, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 23(9), 1705 (2012)CrossRef
8.
Zurück zum Zitat Y. Tian, C. Hang, C. Wang, S. Yang, P. Lin, Mater. Sci. Eng. A 529, 468 (2011)CrossRef Y. Tian, C. Hang, C. Wang, S. Yang, P. Lin, Mater. Sci. Eng. A 529, 468 (2011)CrossRef
9.
Zurück zum Zitat G. Henshall, R. Healey, R.S. Pandher, K. Sweatman, K. Howell, R. Coyle, T. Sack, P. Snugovsky, S. Tisdale, F. Hua, H. Fu, 33th International Electronic Manufacturing Technology Symposium (IEEE Inc, Palo Alto, 2008), p. 1 G. Henshall, R. Healey, R.S. Pandher, K. Sweatman, K. Howell, R. Coyle, T. Sack, P. Snugovsky, S. Tisdale, F. Hua, H. Fu, 33th International Electronic Manufacturing Technology Symposium (IEEE Inc, Palo Alto, 2008), p. 1
10.
Zurück zum Zitat S.K. Kang, P. Lauro, D.Y. Shih, D.W. Henderson, K.J. Puttlitz, IBM J. Res. Dev. 49(4–5), 607 (2005)CrossRef S.K. Kang, P. Lauro, D.Y. Shih, D.W. Henderson, K.J. Puttlitz, IBM J. Res. Dev. 49(4–5), 607 (2005)CrossRef
12.
Zurück zum Zitat D.A.A. Shnawah, M.F.M. Sabri, I.A. Badruddin, S.B.M. Said, F.X. Che, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 23(11), 1988 (2012)CrossRef D.A.A. Shnawah, M.F.M. Sabri, I.A. Badruddin, S.B.M. Said, F.X. Che, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 23(11), 1988 (2012)CrossRef
13.
Metadaten
Titel
Effect of Ni, Bi concentration on the microstructure and shear behavior of low-Ag SAC–Bi–Ni/Cu solder joints
verfasst von
Yang Liu
Fenglian Sun
Yang Liu
Xuemei Li
Publikationsdatum
01.06.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 6/2014
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-014-1921-3

Weitere Artikel der Ausgabe 6/2014

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 6/2014 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt