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Measurement Techniques
Erschienen in: Measurement Techniques 7/2012

01.10.2012

A method and device for measuring the capacitance and Q-factor of microwave varactors and variconds

verfasst von: A. B. Kozyrev, D. M. Kosmin, I. V. Kotelnikov, A. K. Mikhailov, V. N. Osadchy

Erschienen in: Measurement Techniques | Ausgabe 7/2012

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Abstract

A method and device for measuring the bias-voltage dependences of the Q-factor and capacitance for variconds and varactors of different dimensions and structures (two-electrode and three-electrode structures) in the 1–10 GHz frequency band are considered. By placing the devices to be measured outside a closed resonant cavity in a special microstrip holder, the measuring instrument can easily be adapted for rapid automated certification of the components and their mass production.
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Literatur
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A. B. Kozyrev et al., Patent No. 2367964 S1 RF, “A coaxial resonator for measuring the Q-factor of a capacitor,” Izobret. Polezn. Modeli, No. 26 (2009).
Metadaten
Titel
A method and device for measuring the capacitance and Q-factor of microwave varactors and variconds
verfasst von
A. B. Kozyrev
D. M. Kosmin
I. V. Kotelnikov
A. K. Mikhailov
V. N. Osadchy
Publikationsdatum
01.10.2012
Verlag
Springer US
Erschienen in
Measurement Techniques / Ausgabe 7/2012
Print ISSN: 0543-1972
Elektronische ISSN: 1573-8906
DOI
https://doi.org/10.1007/s11018-012-0047-3

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