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Erschienen in: Strength of Materials 1/2014

01.01.2014

On Designing Constant-Stress Partially Accelerated Life Tests under Time-Censoring

verfasst von: Ali A. Ismail

Erschienen in: Strength of Materials | Ausgabe 1/2014

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Abstract

It is not easy to obtain more failure data from products with high quality and long life at normal (use) condition. Thus, accelerated tests are needed in this respect. This paper considers the constant stress partially accelerated life tests with type-I censoring under Weibull distribution. The maximum likelihood estimators of the model parameters are derived. Partially accelerated life tests plans are developed such that the generalized asymptotic variance of the maximum likelihood estimators of the model parameters is minimized. The plan is to specify the proportion of test units that should be allocated to run under use condition. Simulation studies are made for illustrative purposes.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat W. Nelson, Accelerated Life Testing: Statistical Models, Data Analysis, and Test Plans, Wiley, New York (1990).CrossRef W. Nelson, Accelerated Life Testing: Statistical Models, Data Analysis, and Test Plans, Wiley, New York (1990).CrossRef
2.
Zurück zum Zitat D. S. Bai and S. W. Chung, “Optimal design of partially accelerated life tests for the exponential distribution under type-I censoring,” IEEE Trans. Reliab., 41, No. 3, 400–406 (1992).CrossRef D. S. Bai and S. W. Chung, “Optimal design of partially accelerated life tests for the exponential distribution under type-I censoring,” IEEE Trans. Reliab., 41, No. 3, 400–406 (1992).CrossRef
3.
Zurück zum Zitat A. A. Ismail, A. A. Abdel-Ghaly, and E. H. El-Khodary, “Optimum constant-stress life test plans for Pareto distribution under type-I censoring,” J. Stat. Comput. Simul., 81, No. 12, 1835–1845 (2011).CrossRef A. A. Ismail, A. A. Abdel-Ghaly, and E. H. El-Khodary, “Optimum constant-stress life test plans for Pareto distribution under type-I censoring,” J. Stat. Comput. Simul., 81, No. 12, 1835–1845 (2011).CrossRef
4.
Zurück zum Zitat M. M. Abdel-Ghani, Investigation of Some Lifetime Models under Partially Accelerated Life Tests, Ph.D. Thesis, Cairo University (1998). M. M. Abdel-Ghani, Investigation of Some Lifetime Models under Partially Accelerated Life Tests, Ph.D. Thesis, Cairo University (1998).
5.
Zurück zum Zitat K. Dimitri, Reliability Engineering Handbook, Vol. 1, Prentice Hall, Englewood Cliffs, NJ (1991). K. Dimitri, Reliability Engineering Handbook, Vol. 1, Prentice Hall, Englewood Cliffs, NJ (1991).
6.
Zurück zum Zitat A. C. Cohen, “Maximum likelihood estimation in the Weibull distribution based on complete and on censored samples,” Technometrics, 7, No. 4, 579–588 (1965).CrossRef A. C. Cohen, “Maximum likelihood estimation in the Weibull distribution based on complete and on censored samples,” Technometrics, 7, No. 4, 579–588 (1965).CrossRef
7.
Zurück zum Zitat G. B. Yang, “Optimum constant-stress accelerated life-test plans,” IEEE Trans. Reliab., 43, No. 4, 575–581 (1994).CrossRef G. B. Yang, “Optimum constant-stress accelerated life-test plans,” IEEE Trans. Reliab., 43, No. 4, 575–581 (1994).CrossRef
8.
Zurück zum Zitat D. S. Bai, J. G. Kim, and Y. R. Chun, “Design of failure-censored accelerated life-test sampling plans for lognormal and Weibull distributions,” Eng. Opt., 21, 197–212 (1993).CrossRef D. S. Bai, J. G. Kim, and Y. R. Chun, “Design of failure-censored accelerated life-test sampling plans for lognormal and Weibull distributions,” Eng. Opt., 21, 197–212 (1993).CrossRef
Metadaten
Titel
On Designing Constant-Stress Partially Accelerated Life Tests under Time-Censoring
verfasst von
Ali A. Ismail
Publikationsdatum
01.01.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Strength of Materials / Ausgabe 1/2014
Print ISSN: 0039-2316
Elektronische ISSN: 1573-9325
DOI
https://doi.org/10.1007/s11223-014-9524-z

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