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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 11/2012

01.11.2012

Post-annealing Effect on Microstructures and Thermoelectric Properties of Bi0.45Sb1.55Te3 Thin Films Deposited by Co-sputtering

verfasst von: Junqiang Song, Xihong Chen, Yunshan Tang, Qin Yao, Lidong Chen

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 11/2012

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Metadaten
Titel
Post-annealing Effect on Microstructures and Thermoelectric Properties of Bi0.45Sb1.55Te3 Thin Films Deposited by Co-sputtering
verfasst von
Junqiang Song
Xihong Chen
Yunshan Tang
Qin Yao
Lidong Chen
Publikationsdatum
01.11.2012
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 11/2012
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-012-2228-x

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