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Journal of Intelligent Manufacturing
Erschienen in: Journal of Intelligent Manufacturing 6/2000

01.12.2000

Tool condition monitoring using reflectance of chip surface and neural network

verfasst von: S. H. Yeo, L. P. Khoo, S. S. Neo

Erschienen in: Journal of Intelligent Manufacturing | Ausgabe 6/2000

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Metadaten
Titel
Tool condition monitoring using reflectance of chip surface and neural network
verfasst von
S. H. Yeo
L. P. Khoo
S. S. Neo
Publikationsdatum
01.12.2000
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Intelligent Manufacturing / Ausgabe 6/2000
Print ISSN: 0956-5515
Elektronische ISSN: 1572-8145
DOI
https://doi.org/10.1023/A:1026583821221

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