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Technical Physics
Erschienen in: Technical Physics 11/2006

01.11.2006 | Solids

Measurement of magnetic parameters of nanometer-thick conducting magnetic films using anisotropic magnetoresistive effect

verfasst von: A. V. Medved, R. G. Kryshtal, A. I. Krikunov

Erschienen in: Technical Physics | Ausgabe 11/2006

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Metadaten
Titel
Measurement of magnetic parameters of nanometer-thick conducting magnetic films using anisotropic magnetoresistive effect
verfasst von
A. V. Medved
R. G. Kryshtal
A. I. Krikunov
Publikationsdatum
01.11.2006
Verlag
Nauka/Interperiodica
Erschienen in
Technical Physics / Ausgabe 11/2006
Print ISSN: 1063-7842
Elektronische ISSN: 1090-6525
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063784206110120

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