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2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

56. Low-Energy Ion Scattering Spectroscopy

verfasst von : Kenji Umezawa

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

Low-energy ions scattering (less than 5 keV) is a powerful tool for the analysis of “first monolayer”.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat Rabalais, J.W.: Low Energy Ion-Surface Interactions. Wiley, NewYork (1994) Rabalais, J.W.: Low Energy Ion-Surface Interactions. Wiley, NewYork (1994)
2.
Zurück zum Zitat Rabalais, J.W.: Principles and Applications of Ion Scattering Spectroscopy. Wiley, New York (2003) Rabalais, J.W.: Principles and Applications of Ion Scattering Spectroscopy. Wiley, New York (2003)
3.
Zurück zum Zitat Buck, T.M., Wheatley, G.H., Verheij, L.K.: Low energy neon ion scattering and neutralization on first and second layers of a Ni(001) surface. Surf. Sci. 90, 635–647 (1979)CrossRef Buck, T.M., Wheatley, G.H., Verheij, L.K.: Low energy neon ion scattering and neutralization on first and second layers of a Ni(001) surface. Surf. Sci. 90, 635–647 (1979)CrossRef
4.
Zurück zum Zitat Katayama, M., Nomura, E., Kanekama, N., Soejima, H., Aono, M.: Coaxial impact-collision ion scattering spectroscopy (CAICISS): a novel method for surface structure analysis. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B 33, 857–861 (1988)CrossRef Katayama, M., Nomura, E., Kanekama, N., Soejima, H., Aono, M.: Coaxial impact-collision ion scattering spectroscopy (CAICISS): a novel method for surface structure analysis. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B 33, 857–861 (1988)CrossRef
5.
Zurück zum Zitat Sumitomo, K., Oura, K., Katayama, I., Shoji, F., Hanawa, T.: “A TOF-ISS/ERDA apparatus for solid surface analysis”, “Coaxial impact-collision ion scattering spectroscopy (CAICISS): a novel method for surface structure analysis”. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B 33, 871–875 (1988)CrossRef Sumitomo, K., Oura, K., Katayama, I., Shoji, F., Hanawa, T.: “A TOF-ISS/ERDA apparatus for solid surface analysis”, “Coaxial impact-collision ion scattering spectroscopy (CAICISS): a novel method for surface structure analysis”. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B 33, 871–875 (1988)CrossRef
6.
Zurück zum Zitat Souda, R., Aono, M.: Interactions of low energy He+, He0 and He* with solid surfaces. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B 15, 114–121 (1986)CrossRef Souda, R., Aono, M.: Interactions of low energy He+, He0 and He* with solid surfaces. Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B 15, 114–121 (1986)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat Umezawa, K., Nakanishi, S., Yoshimura, M., Ojima, K., Ueda, K., Gibson, W.M.: Ag/Cu(111) surface structure and metal epitaxy by impact-collision ion-scattering spectroscopy and scanning tunneling microscopy. Phys. Rev. B 63, 035402 (2000)CrossRef Umezawa, K., Nakanishi, S., Yoshimura, M., Ojima, K., Ueda, K., Gibson, W.M.: Ag/Cu(111) surface structure and metal epitaxy by impact-collision ion-scattering spectroscopy and scanning tunneling microscopy. Phys. Rev. B 63, 035402 (2000)CrossRef
8.
Zurück zum Zitat Williams, R., Kato, M., Daley, R.S., Aono, M.: Scattering cross sections for ions colliding sequentially with two target atoms. Surf. Sci. 225, 355–366 (1990)CrossRef Williams, R., Kato, M., Daley, R.S., Aono, M.: Scattering cross sections for ions colliding sequentially with two target atoms. Surf. Sci. 225, 355–366 (1990)CrossRef
9.
Zurück zum Zitat Robinson, M.T., Yorrens, I.M.: Computer simulation of atomic displacement cascades in solids in the binally-collision approximation, Phys. Rev. B9, 5008–5024 (1974)CrossRef Robinson, M.T., Yorrens, I.M.: Computer simulation of atomic displacement cascades in solids in the binally-collision approximation, Phys. Rev. B9, 5008–5024 (1974)CrossRef
10.
Zurück zum Zitat Yuan, B., Yu, F.C., Tang, S.M.: A database method for binary atomic scattering angle calculation. Nucl. Instrum. Meth. B83, 413–418 (1993)CrossRef Yuan, B., Yu, F.C., Tang, S.M.: A database method for binary atomic scattering angle calculation. Nucl. Instrum. Meth. B83, 413–418 (1993)CrossRef
11.
Zurück zum Zitat Denier van der Gon, A.W., Smith, R.J., Gay, J.M., O’Connor, D.J., van der Veen, J.F.: Melting of Al surfaces. Surf. Sci. 227, 143–149 (1990)CrossRef Denier van der Gon, A.W., Smith, R.J., Gay, J.M., O’Connor, D.J., van der Veen, J.F.: Melting of Al surfaces. Surf. Sci. 227, 143–149 (1990)CrossRef
12.
Zurück zum Zitat Nieus, H.: Ion scattering spectroscopy and scanning tunneling microscopy: A powerful combination for surface structural analysis. Appl. Phys. A 53, 388–402 (1991)CrossRef Nieus, H.: Ion scattering spectroscopy and scanning tunneling microscopy: A powerful combination for surface structural analysis. Appl. Phys. A 53, 388–402 (1991)CrossRef
Metadaten
Titel
Low-Energy Ion Scattering Spectroscopy
verfasst von
Kenji Umezawa
Copyright-Jahr
2018
Verlag
Springer Singapore
DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_56

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.