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Erschienen in: IST International Surface Technology 2/2021

01.07.2021 | Measuring and Testing

Measurement System Analysis Made Easy

verfasst von: HELMUT FISCHER GMBH, INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND MESSTECHNIK

Erschienen in: IST International Surface Technology | Ausgabe 2/2021

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Excerpt

With measurement system analysis (MSA), measurement processes can be enabled and optimised. To do this, the user must identify the relevant influencing factors of the MSA, reduce standard deviation and systematic measured value deviation. An X-ray fluorescence measuring instrument offers excellent advantages in this respect. …

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Metadaten
Titel
Measurement System Analysis Made Easy
verfasst von
HELMUT FISCHER GMBH, INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND MESSTECHNIK
Publikationsdatum
01.07.2021
Verlag
Springer Fachmedien Wiesbaden
Erschienen in
IST International Surface Technology / Ausgabe 2/2021
Print ISSN: 1865-4827
Elektronische ISSN: 2192-8703
DOI
https://doi.org/10.1007/s35724-021-0478-y

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