Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science 4/2011

01.02.2011

Methylthiolate adsorbed on as-rich GaAs (001) surface

verfasst von: W. Gao, S. E. Zhu, M. Zhao

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 4/2011

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

The adsorption of the methylthiolate (MT) on the as-rich GaAs (001) surface has been studied by using density functional theory (DFT) calculations with a three-dimensional periodic boundary condition. A complete characterization of structures and binding energies of the system consisting of MT and As-rich GaAs (001) surface is obtained. It is found that the most reactive binding site is related to empty Ga dangling bonds located at the threefold-coordinated second-layer Ga atom. Moreover, electronic properties of these structures are also calculated to study the bonding characteristics of S–Ga and S–As bonding, which show that the covalent bonding of the former is stronger than that of the latter. The analysis for this shortest chain binding is helpful to realize the electrical passivation and chemical protection of GaAs surfaces.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
1.
3.
4.
Zurück zum Zitat Shaporenko A, Adlkofer K, Johansson LSO, Tanaka M, Zharnikov M (2003) Langmuir 19:4992CrossRef Shaporenko A, Adlkofer K, Johansson LSO, Tanaka M, Zharnikov M (2003) Langmuir 19:4992CrossRef
5.
Zurück zum Zitat McGuiness CL, Shaporenko A, Mars CK, Uppili S, Zharnikov M, Allara DL (2006) J Am Chem Soc 128:5231CrossRef McGuiness CL, Shaporenko A, Mars CK, Uppili S, Zharnikov M, Allara DL (2006) J Am Chem Soc 128:5231CrossRef
6.
Zurück zum Zitat Lee K, Lu G, Facchetti A, Janes DB, Marks TJ (2008) Appl Phys Lett 92:123509CrossRef Lee K, Lu G, Facchetti A, Janes DB, Marks TJ (2008) Appl Phys Lett 92:123509CrossRef
7.
Zurück zum Zitat Nesher G, Vilan A, Cohen H, Cahen D, Amy F, Chan C, Hwang J, Kahn A (2006) J Phys Chem B 110:14363CrossRef Nesher G, Vilan A, Cohen H, Cahen D, Amy F, Chan C, Hwang J, Kahn A (2006) J Phys Chem B 110:14363CrossRef
8.
Zurück zum Zitat Li WJ, Kavanagha KL, Talin AA, Clift WM, Matzke CM, Hsu JWP (2007) J Appl Phys 102:013703CrossRef Li WJ, Kavanagha KL, Talin AA, Clift WM, Matzke CM, Hsu JWP (2007) J Appl Phys 102:013703CrossRef
9.
10.
Zurück zum Zitat Lavrich DJ, Wetterer SM, Bernasek SL, Scoles G (1998) J Phys Chem B 102:3456CrossRef Lavrich DJ, Wetterer SM, Bernasek SL, Scoles G (1998) J Phys Chem B 102:3456CrossRef
11.
Zurück zum Zitat Pontes RB, Novaes FD, Fazzio A, da Silva AJR (2006) J Am Chem Soc 128:8996CrossRef Pontes RB, Novaes FD, Fazzio A, da Silva AJR (2006) J Am Chem Soc 128:8996CrossRef
13.
Zurück zum Zitat Sheen CW, Shi JX, Martensson J, Parikh AN, Allara DL (1992) J Am Chem Soc 114:1514CrossRef Sheen CW, Shi JX, Martensson J, Parikh AN, Allara DL (1992) J Am Chem Soc 114:1514CrossRef
14.
16.
Zurück zum Zitat Donev S, Brack N, Paris NJ, Pigram PJ, Singh NK, Usher BF (2005) Langmuir 21:1866CrossRef Donev S, Brack N, Paris NJ, Pigram PJ, Singh NK, Usher BF (2005) Langmuir 21:1866CrossRef
17.
Zurück zum Zitat McGuiness CL, Shaporenko A, Zharnikov M, Walker AV, Allara DL (2007) J Phys Chem C 111:4226CrossRef McGuiness CL, Shaporenko A, Zharnikov M, Walker AV, Allara DL (2007) J Phys Chem C 111:4226CrossRef
19.
20.
22.
Zurück zum Zitat Hashizume T, Xue QK, Zhou J, Ichimiya A, Sakurai T (1994) Phys Rev Lett 73:2208CrossRef Hashizume T, Xue QK, Zhou J, Ichimiya A, Sakurai T (1994) Phys Rev Lett 73:2208CrossRef
23.
Zurück zum Zitat Hashizume T, Xue QK, Zhou J, Ichimiya A, Sakurai T (1995) Phys Rev B 51:4200CrossRef Hashizume T, Xue QK, Zhou J, Ichimiya A, Sakurai T (1995) Phys Rev B 51:4200CrossRef
25.
26.
27.
Zurück zum Zitat Laukkanen P, Kuzmin M, Perälä RE, Ahola M, Mattila S, Väyrynen IJ, Sadowski J, Konttinen J, Jouhti T, Peng CS, Saarinen M, Pessa M (2005) Phys Rev B 72:045321CrossRef Laukkanen P, Kuzmin M, Perälä RE, Ahola M, Mattila S, Väyrynen IJ, Sadowski J, Konttinen J, Jouhti T, Peng CS, Saarinen M, Pessa M (2005) Phys Rev B 72:045321CrossRef
29.
30.
Zurück zum Zitat Laukkanen P, Perälä RE, Vaara RL, Väyrynen IJ, Kuzmin M, Sadowski J (2004) Phys Rev B 69:205323CrossRef Laukkanen P, Perälä RE, Vaara RL, Väyrynen IJ, Kuzmin M, Sadowski J (2004) Phys Rev B 69:205323CrossRef
31.
Zurück zum Zitat Garreau Y, Sauvage-Simkin M, Jedrecy N, Pinchaux R, Veron MB (1996) Phys Rev B 54:17638CrossRef Garreau Y, Sauvage-Simkin M, Jedrecy N, Pinchaux R, Veron MB (1996) Phys Rev B 54:17638CrossRef
32.
Zurück zum Zitat LaBella VP, Bullock DW, Emery C, Ding Z, Thibado PM (2001) Appl Phys Lett 79:3065CrossRef LaBella VP, Bullock DW, Emery C, Ding Z, Thibado PM (2001) Appl Phys Lett 79:3065CrossRef
33.
39.
40.
42.
Zurück zum Zitat Cohen ML, Chelikowsky JR (1988) Electronic structure and optical properties of semiconductors. Springer, New York Cohen ML, Chelikowsky JR (1988) Electronic structure and optical properties of semiconductors. Springer, New York
45.
50.
Zurück zum Zitat Sugahara H, Oshima M, Shigekawa H, Nanichi Y (1989) Abstract of 21st conference on the solid state devices and materials. The Japan Society of Applied Physics, Tokyo, p 547 Sugahara H, Oshima M, Shigekawa H, Nanichi Y (1989) Abstract of 21st conference on the solid state devices and materials. The Japan Society of Applied Physics, Tokyo, p 547
51.
Zurück zum Zitat McGuiness CL, Blasini D, Masejewski JP, Uppili S, Cabarcos OM, Smilgies D, Allara DL (2007) ACS Nano 1:30CrossRef McGuiness CL, Blasini D, Masejewski JP, Uppili S, Cabarcos OM, Smilgies D, Allara DL (2007) ACS Nano 1:30CrossRef
53.
Zurück zum Zitat Engels B, Richard P, Schroeder K, Blügel S, Ebert Ph, Urban K (1998) Phys Rev B 58:7799CrossRef Engels B, Richard P, Schroeder K, Blügel S, Ebert Ph, Urban K (1998) Phys Rev B 58:7799CrossRef
Metadaten
Titel
Methylthiolate adsorbed on as-rich GaAs (001) surface
verfasst von
W. Gao
S. E. Zhu
M. Zhao
Publikationsdatum
01.02.2011
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 4/2011
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-010-4867-8

Weitere Artikel der Ausgabe 4/2011

Journal of Materials Science 4/2011 Zur Ausgabe

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.