Skip to main content
Erschienen in: Chinese Journal of Mechanical Engineering 1/2016

01.01.2016 | Measurement, Fault Diagnosis and Signal Processing

Multi-objective optimal design of high frequency probe for scanning ion conductance microscopy

verfasst von: Renfei Guo, Jian Zhuang, Li Ma, Fei Li, Dehong Yu

Erschienen in: Chinese Journal of Mechanical Engineering | Ausgabe 1/2016

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Metadaten
Titel
Multi-objective optimal design of high frequency probe for scanning ion conductance microscopy
verfasst von
Renfei Guo
Jian Zhuang
Li Ma
Fei Li
Dehong Yu
Publikationsdatum
01.01.2016
Verlag
Chinese Mechanical Engineering Society
Erschienen in
Chinese Journal of Mechanical Engineering / Ausgabe 1/2016
Print ISSN: 1000-9345
Elektronische ISSN: 2192-8258
DOI
https://doi.org/10.3901/CJME.2015.0907.109

Weitere Artikel der Ausgabe 1/2016

Chinese Journal of Mechanical Engineering 1/2016 Zur Ausgabe

Measurement, Fault Diagnosis and Signal Processing

Measurement uncertainty evaluation of conicity error inspected on CMM

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.