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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 5/2014

01.05.2014

Optical properties of pulse plated SnSe films

verfasst von: K. R. Murali

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 5/2014

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Abstract

SnSe films were pulse electrodeposited on tin oxide coated glass substrates at different duty cycles. The films were single phase with orthorhombic structure. Optical absorption measurements indicated a band gap in the range of 1.28–1.50 eV with decrease of duty cycle. Transmission spectra exhibited interference fringes. Using the envelope method, refractive index was calculated. From the refractive index and extinction coefficient data, real and imaginary part of dielectric constant were estimated. Optical conductivity was evaluated from the absorption coefficient and refractive index data. Optical data were analysed by the single-effective oscillator model.
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Metadaten
Titel
Optical properties of pulse plated SnSe films
verfasst von
K. R. Murali
Publikationsdatum
01.05.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 5/2014
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-014-1890-6

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