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Automation and Remote Control
Erschienen in: Automation and Remote Control 4/2015

01.04.2015 | Safety, Viability, Reliability, Technical Diagnostics

Properties of pairs of test vectors detecting path delay faults in high performance VLSI logical circuits

verfasst von: A. Yu. Matrosova, V. B. Lipskii

Erschienen in: Automation and Remote Control | Ausgabe 4/2015

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Metadaten
Titel
Properties of pairs of test vectors detecting path delay faults in high performance VLSI logical circuits
verfasst von
A. Yu. Matrosova
V. B. Lipskii
Publikationsdatum
01.04.2015
Verlag
Pleiades Publishing
Erschienen in
Automation and Remote Control / Ausgabe 4/2015
Print ISSN: 0005-1179
Elektronische ISSN: 1608-3032
DOI
https://doi.org/10.1134/S0005117915040104

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