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2015 | OriginalPaper | Buchkapitel

19. Quartz Sensors in Atomic Force Microscopy

verfasst von : Bert Voigtländer

Erschienen in: Scanning Probe Microscopy

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Abstract

As an alternative to the most frequently used silicon cantilevers, quartz oscillators can be used as sensors in AFM.

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Metadaten
Titel
Quartz Sensors in Atomic Force Microscopy
verfasst von
Bert Voigtländer
Copyright-Jahr
2015
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Scanning Probe Microscopy

Print ISBN: 978-3-662-45239-4

Electronic ISBN: 978-3-662-45240-0

Copyright-Jahr: 2015

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0_19

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