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Technical Physics
Erschienen in: Technical Physics 9/2012

01.09.2012 | Optics, Quantum Electronics

Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth

verfasst von: I. A. Tarasov, N. N. Kosyrev, S. N. Varnakov, S. G. Ovchinnikov, S. M. Zharkov, V. A. Shvets, S. G. Bondarenko, O. E. Tereshchenko

Erschienen in: Technical Physics | Ausgabe 9/2012

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Metadaten
Titel
Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO2/Si(100) nanostructures during growth
verfasst von
I. A. Tarasov
N. N. Kosyrev
S. N. Varnakov
S. G. Ovchinnikov
S. M. Zharkov
V. A. Shvets
S. G. Bondarenko
O. E. Tereshchenko
Publikationsdatum
01.09.2012
Verlag
SP MAIK Nauka/Interperiodica
Erschienen in
Technical Physics / Ausgabe 9/2012
Print ISSN: 1063-7842
Elektronische ISSN: 1090-6525
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063784212090241

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