2020 | OriginalPaper | Buchkapitel
Real-Time Inspection of Multi-sided Surface Defects Based on PANet Model
verfasst von : Yohan Han, Jongpil Jeong
Erschienen in: Computational Science and Its Applications – ICCSA 2020
Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by