Skip to main content
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 6/2006

01.06.2006

Simulation, modeling, and crystal growth of Cd0.9Zn0.1Te for nuclear spectrometers

verfasst von: Krishna C. Mandal, Sung Hoon Kang, Michael Choi, Job Bello, Lili Zheng, Hui Zhang, Michael Groza, Utpal N. Roy, Arnold Burger, Gerald E. Jellison, David E. Holcomb, Gomez W. Wright, Joseph A. Williams

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 6/2006

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Metadaten
Titel
Simulation, modeling, and crystal growth of Cd0.9Zn0.1Te for nuclear spectrometers
verfasst von
Krishna C. Mandal
Sung Hoon Kang
Michael Choi
Job Bello
Lili Zheng
Hui Zhang
Michael Groza
Utpal N. Roy
Arnold Burger
Gerald E. Jellison
David E. Holcomb
Gomez W. Wright
Joseph A. Williams
Publikationsdatum
01.06.2006
Verlag
Springer-Verlag
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 6/2006
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-006-0250-6

Weitere Artikel der Ausgabe 6/2006

Journal of Electronic Materials 6/2006 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt