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2020 | OriginalPaper | Buchkapitel

Source Consistency Frequency Difference Electrical Impedance Tomography (sc-fdEIT)

verfasst von : Tingting Zhang, Tong In Oh, Eung Je Woo

Erschienen in: 17th International Conference on Electrical Bioimpedance

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

Based on the frequency spectroscopy of the biological tissues given by BIS, we aim to separately reconstruct the different frequency-dependent sources using the newly proposed image reconstruction technique called source consistency frequency difference electrical impedance tomography (sc-fdEIT). The boundary frequency-dependent voltages can be approximated in first or second order with respect to the frequency-dependent spectroscopy of each separated sources which is prior information in this study. The numerical simulation results show the feasibility of the proposed sc-fdEIT method as a new noninvasive technique for the identification of the frequency dependent object mixed in the domain.

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Literatur
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Zurück zum Zitat Gabriel, C., Gabriel, S., Corthout, E.: The dielectric properties of biological tissues: I. Literature survey. Phys. Med. Biol. 41, 2231–2249 (1996)CrossRef Gabriel, C., Gabriel, S., Corthout, E.: The dielectric properties of biological tissues: I. Literature survey. Phys. Med. Biol. 41, 2231–2249 (1996)CrossRef
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Zurück zum Zitat Seo, J.K., Woo, E.J.: Nonlinear Inverse Problems in Imaging. Wiley, Hoboken (2012) Seo, J.K., Woo, E.J.: Nonlinear Inverse Problems in Imaging. Wiley, Hoboken (2012)
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Zurück zum Zitat Zhang, T., Jang, G.Y., Oh, T.I, Jeung, K.W., Wi, H., Woo, E.J.: Source consistency electrical impedance tomography. SIAM Appl. Math. (2018, submitted) Zhang, T., Jang, G.Y., Oh, T.I, Jeung, K.W., Wi, H., Woo, E.J.: Source consistency electrical impedance tomography. SIAM Appl. Math. (2018, submitted)
Metadaten
Titel
Source Consistency Frequency Difference Electrical Impedance Tomography (sc-fdEIT)
verfasst von
Tingting Zhang
Tong In Oh
Eung Je Woo
Copyright-Jahr
2020
Verlag
Springer Singapore
DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-13-3498-6_25

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