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2015 | OriginalPaper | Buchkapitel

13. Static Atomic Force Microscopy

verfasst von : Bert Voigtländer

Erschienen in: Scanning Probe Microscopy

Verlag: Springer Berlin Heidelberg

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Abstract

In static atomic force microscopy the force between the tip and sample leads to a deflection of the cantilever according to Hooke’s law.

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Fußnoten
1
The influence of capillary forces can in principle be estimated by comparing \(z_{\mathrm {tip}}(z_{\mathrm {sample}})\) plots in air and water. If the cantilever is fully immersed in water, capillary forces can be excluded.
 
Metadaten
Titel
Static Atomic Force Microscopy
verfasst von
Bert Voigtländer
Copyright-Jahr
2015
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Buch
Scanning Probe Microscopy

Print ISBN: 978-3-662-45239-4

Electronic ISBN: 978-3-662-45240-0

Copyright-Jahr: 2015

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-662-45240-0_13

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