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Semiconductors
Erschienen in: Semiconductors 5/2000

01.05.2000 | Low-Dimensional Systems

Study of decay of elastically strained germanium film at the silicon surface

verfasst von: I. V. Zakurdaev, M. V. Baizer, S. Yu. Sadof’ev, M. M. Rzaev

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 5/2000

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Metadaten
Titel
Study of decay of elastically strained germanium film at the silicon surface
verfasst von
I. V. Zakurdaev
M. V. Baizer
S. Yu. Sadof’ev
M. M. Rzaev
Publikationsdatum
01.05.2000
Verlag
Nauka/Interperiodica
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 5/2000
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/1.1188033

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