Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 12/2017

22.02.2017

Study of structural, optical and electrical parameters of ZnSe powder and thin films

verfasst von: Deep Shikha, Vimal Mehta, Jeewan Sharma, R. P. Chauhan

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 12/2017

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

Nanocrystalline ZnSe powder and thin film forms have been synthesized via chemical bath deposition technique. The ZnSe thin films are deposited onto ultrasonically clean glass substrates in an aqueous alkaline medium using sodium selenosulphate as Se2− ion source. The ZnSe powder and thin film are characterized by structural, optical and electrical properties. It is confirmed from X-ray diffraction study that cubic phase is present in ZnSe thin film form with (111) as preferred orientation and hexagonal phase is present in ZnSe powder form with (100) as preferred orientation. Optical absorption measurement indicates the existence of direct allowed optical transition with a wide energy gap and blue shift in the fundamental edge has been observed in both cases. The optical band gap of ZnSe powder is greater than the thin film. The electrical conductivity (both dark and photoconductivity) measurements are also carried out in different temperature range and variation in activation energy has been calculated.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
1.
Zurück zum Zitat B. Subramanian, T. Mahalingam, C. Sanjeeviraja, M. Jayachandran, M.J. Chockalingam. Thin Solid Films 357(2), 119 (1999)CrossRef B. Subramanian, T. Mahalingam, C. Sanjeeviraja, M. Jayachandran, M.J. Chockalingam. Thin Solid Films 357(2), 119 (1999)CrossRef
2.
3.
Zurück zum Zitat A. Gaur, D.K. Sharma, D.S. Ahlawat, N. Singh, J. Opt. A Pure Appl. 9(3), 260 (2007).CrossRef A. Gaur, D.K. Sharma, D.S. Ahlawat, N. Singh, J. Opt. A Pure Appl. 9(3), 260 (2007).CrossRef
4.
Zurück zum Zitat M. Bedir, M. Oztas, O.F. Bakkaloglu, R. Ormanci, Euro. Phys. J. B 45, 465 (2005).CrossRef M. Bedir, M. Oztas, O.F. Bakkaloglu, R. Ormanci, Euro. Phys. J. B 45, 465 (2005).CrossRef
5.
Zurück zum Zitat B.K. Choi, D.H. Chang, Y.S. Yoon, S.J. Kang, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 17, 1011 (2006)CrossRef B.K. Choi, D.H. Chang, Y.S. Yoon, S.J. Kang, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 17, 1011 (2006)CrossRef
6.
Zurück zum Zitat A. Colli, S. Hofmann, A.C. Ferrari, F. Martelli, S. Rubini, C. Ducati, A. Franciosi, J. Robertson, Nanotechnology 16, 139 (2005)CrossRef A. Colli, S. Hofmann, A.C. Ferrari, F. Martelli, S. Rubini, C. Ducati, A. Franciosi, J. Robertson, Nanotechnology 16, 139 (2005)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat M. Safonova, P.K. Nair, E. Mellikov, A.R. Garcia, K. Kerm, N. Revathi, T. Romann, V. Mikli, O. Volobujeva, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 25, 3160 (2014).CrossRef M. Safonova, P.K. Nair, E. Mellikov, A.R. Garcia, K. Kerm, N. Revathi, T. Romann, V. Mikli, O. Volobujeva, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 25, 3160 (2014).CrossRef
8.
10.
11.
Zurück zum Zitat D. Shikha, R.P. Chauhan, J. Sharma, Optoelectron. Adv. Mater. 6(7–8), 734 (2012). D. Shikha, R.P. Chauhan, J. Sharma, Optoelectron. Adv. Mater. 6(7–8), 734 (2012).
13.
Zurück zum Zitat P.P. Hankare, P.A. Chate, S.D. Delekar, M.R. Asabe, I.S. Mulla, J. Phys. Chem. Solids 67, 2310 (2006)CrossRef P.P. Hankare, P.A. Chate, S.D. Delekar, M.R. Asabe, I.S. Mulla, J. Phys. Chem. Solids 67, 2310 (2006)CrossRef
14.
Zurück zum Zitat A. Ayeshamariam, M. Kashif, S. Muthuraja, S. Jagadeswari, D. Saravanakkumar, N.M.I Alhaji, A. Uduman Mohideen, M. Bououdina, M Jayachandran, Int. J. Emerging Tech. Adv. Engg 4(5), 584 (2014) A. Ayeshamariam, M. Kashif, S. Muthuraja, S. Jagadeswari, D. Saravanakkumar, N.M.I Alhaji, A. Uduman Mohideen, M. Bououdina, M Jayachandran, Int. J. Emerging Tech. Adv. Engg 4(5), 584 (2014)
15.
Zurück zum Zitat K. Senthilkumar, T. Kalaivani, S. Kanagesan, V. Balasubramanian, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 23, 2048 (2012).CrossRef K. Senthilkumar, T. Kalaivani, S. Kanagesan, V. Balasubramanian, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 23, 2048 (2012).CrossRef
16.
Zurück zum Zitat U. Khairnar, S. Behere, P. Pawar, Mater. Sci. Appl. 3, 36 (2012). U. Khairnar, S. Behere, P. Pawar, Mater. Sci. Appl. 3, 36 (2012).
18.
19.
Zurück zum Zitat C.D. Lokhande, P.S. Patil, A. Ennaoui, H. Tributsch, Appl. Surface Sci. 123, 294 (1998).CrossRef C.D. Lokhande, P.S. Patil, A. Ennaoui, H. Tributsch, Appl. Surface Sci. 123, 294 (1998).CrossRef
20.
Zurück zum Zitat N.F. Habubi, A. Mohammad Jabbar, A. Dellao, Fondazione Giorgio Ronchi, LXVI 3, 334 (2011). N.F. Habubi, A. Mohammad Jabbar, A. Dellao, Fondazione Giorgio Ronchi, LXVI 3, 334 (2011).
21.
Zurück zum Zitat L.L. Peng, Y.H. Wang, C.Y. Li, J. Nanosci. Nanotechnol. 10(3), 2113 (2010)CrossRef L.L. Peng, Y.H. Wang, C.Y. Li, J. Nanosci. Nanotechnol. 10(3), 2113 (2010)CrossRef
Metadaten
Titel
Study of structural, optical and electrical parameters of ZnSe powder and thin films
verfasst von
Deep Shikha
Vimal Mehta
Jeewan Sharma
R. P. Chauhan
Publikationsdatum
22.02.2017
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 12/2017
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-017-6552-z

Weitere Artikel der Ausgabe 12/2017

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 12/2017 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt