Skip to main content
Fachgebiete
Automobil + Motoren Bauwesen + Immobilien Business IT + Informatik Elektrotechnik + Elektronik Energie + Nachhaltigkeit Finance + Banking Management + Führung Marketing + Vertrieb Maschinenbau + Werkstoffe Versicherung + Risiko
DE
EN
Bücher
Zeitschriften
Themenseiten
Organisationspsychologie Projektmanagement Marketing Smart Manufacturing
Weitere Formate
Podcasts Webinare Technik Webinare Wirtschaft Kongresse Veranstaltungskalender Awards
Jetzt Einzelzugang starten
Zugang für Unternehmen
Referenzkunden
SLX-Digitalkonferenz: Zukunftswerkstatt 2024

Mehr Umsatz mit Top-Kontakten

Am 7. Mai erfahren Sie, wie Vertriebsteams Leadgenerierung, Leadnurturing und Leadstrategien effizient steuern können.
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 9/2015

01.09.2015

The redistribution of charge density in CaF2:Yb3+

verfasst von: T. K. Thirumalaisamy, R. Saravanan, S. Saravanakumar

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 9/2015

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

The fluorite type optical material Yb doped CaF2 was synthesized by the co-precipitation method. The synthesized materials with various Yb concentration were characterized by X-ray powder diffraction technique. The phase pure CaF2 was observed and the impurity doping effect was analyzed from the observed powder X-ray diffraction. The presence of Yb3+ in CaF2 materials was identified by energy dispersive X-ray analysis measurement and the morphological features were studied through scanning electron microscopy. The charge density distribution of Ca1−xYbxF2 (x = 0.00, 0.03, 0.06, 0.09 and 0.12) materials was analyzed using the maximum entropy method. The rearrangement of charge density distribution between Ca and F due to effect of Yb3+ impurity was analyzed.
Vorheriger Artikel Controllability of assemblage from WO3·H2O nanoplates to nanoflowers with the assistance of oxalic acid
Nächster Artikel Drift region optimization by double epitaxial layer in low and medium power rated silicon power MOSFETs

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren
Literatur
1.
P. Klocek, Handbook of infrared optical materials, 1st edn. (Marcel Dekker Inc., New York, 1991), pp. 206–208
2.
P. Camy, J.L. Doualan, A. Benayad, M. Von Edlinger, V. Menard, R. Moncorge, Appl. Phys. B 89, 539 (2007)CrossRef
3.
B. Henderson, G.F. Imbusch, Optical spectroscopy of inorganic solids (Oxford Science Publications, Oxford, 1989), p. 248
4.
5.
C.R.A. Catlow, A.V. Chadwick, G.N. Greaves, L.M. Moroney, Nature 312, 601 (1984)CrossRef
6.
J. Corish, C. Catlow, P.W.M. Jacobs, S.H. Ong, Phys. Rev. B 25, 6425 (1982)CrossRef
7.
P.J. Bendall, C.R.A. Catlow, C. Corish, P.W.M. Jacobs, J. Solid State Chem. 51, 159 (1984)CrossRef
8.
V. Petit, J.L. Doualan, P. Camy, X. Portier, R. Moncorge, Phys. Rev. B 78, 1 (2008)
9.
A. Lyberis, G. Patriarche, P. Gredin, D. Vivien, M. Mortier, J. Eur. Ceram. Soc. 31, 1619 (2011)CrossRef
10.
F. Krausz, M.E. Fermann, T. Brabec, P.F. Curley, M. Hofer, M.H. Ober, C. Spielmann, E. Wintner, A.J. Schmidt, IEEE J. Quantum Electron. 28, 2097 (1992)CrossRef
11.
12.
J. Aus der Au, D. Kopf, F. Morier-Genoud, M. Moser, U. Keller, Opt. Lett. 22, 307 (1997)CrossRef
13.
F. Brunner, T. Sdmeyer, E. Innerhofer, F. Morier-Genoud, R. Paschotta, V.E. Kisel, V.G. Shcherbitsky, N.V. Kuleshov, J. Gao, K. Contag, A. Giesen, U. Keller, Opt. Lett. 27, 1162 (2002)CrossRef
14.
F. Salin, A. Courjaud, R. Maleck-Rassoul, N. Deguil, C. Hönninger, Adv. Solid-State Lasers 68, 121 (2002)
15.
16.
A. Pena, P. Camy, A. Benayad, J.L. Doualan, C. Maurel, M. Olivier, V. Nazabal, R. Moncorge, Opt. Mater. 33, 1616 (2011)CrossRef
17.
P. Kumar, V. Pillai, S.R. Bates, D.O. Shah, Mater. Lett. 16, 68 (1993)CrossRef
18.
19.
A. Bensalah, M. Mortier, G. Patriarcheb, P. Gredin, D. Vivien, J. Solid State Chem. 179, 2636 (2006)CrossRef
20.
P. Aubry, A. Bensalah, P. Gredin, G. Patriarche, D. Vivien, M. Mortier, Opt. Mater. 31, 750 (2009)CrossRef
21.
T. Kallel, M.A. Hassairi, M. Dammak, A. Lyberis, P. Gredin, M. Mortier, J. Alloys Compd. 584, 261 (2014)CrossRef
22.
A. Lyberis, A.J. Stevenson, A. Suganuma, S. Ricaud, F. Druon, F. Herbst, D. Vivien, P. Gredin, M. Mortier, Opt. Mater. 34, 965 (2001)CrossRef
23.
24.
R. Saravanan, GRAIN software. Private Communication (2008)
25.
B.D. Cullity, S.R. Stock, Elements of X-ray diffraction, 3rd edn. (Prentice Hall, New Jersy, 2001)
26.
H.M. Rietveld, A profile refinement method for nuclear and magnetic structures. J. Appl. Crystallogr. 2, 65 (1969)CrossRef
27.
V. Petricek, M. Dusek, L. Palatinus, The Crystallographic Computing System (Institute of Physics, Prague, 2006)
28.
L. Gerward, J.S. Olsen, S. Streenstrup, M. Malinowski, S. Asbrink, A. Waskowska, J. Appl. Crystallogr. 25, 578 (1992)CrossRef
29.
F. Izumi, R.A. Dilanian, Recent research developments in physics, vol. 3 Part II (Transworld Research Network, Trivandrum, 2002)
30.
31.
32.
33.
34.
R. Saravanan, T.K. Thirumalaisamy, J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 22, 1637 (2011)
35.
S. Saravanakumar, S. Sasikumar, S. Israel, G.R. Pradhiba, R. Saravanan, Mater. Sci. Semicond. Process. 17, 186 (2014)CrossRef
36.
Metadaten
Titel
The redistribution of charge density in CaF2:Yb3+
verfasst von
T. K. Thirumalaisamy
R. Saravanan
S. Saravanakumar
Publikationsdatum
01.09.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 9/2015
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-015-3270-2

Weitere Artikel der Ausgabe 9/2015

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 9/2015 Zur Ausgabe

OriginalPaper

EDTA-mediated morphology and tunable optical properties of Eu3+-doped NaY(MoO4)2 phosphor

OriginalPaper

Doping effects on Bi-2212 high temperature superconducting thick films

OriginalPaper

Rutile-structured Ga0.5B0.5TiO4 (B = Nb, Ta) microwave dielectric ceramics

OriginalPaper

Microstructure, elastic modulus and shear strength of alumina (Al2O3) nanoparticles-doped tin–silver–copper (Sn–Ag–Cu) solders on copper (Cu) and gold/nickel (Au/Ni)-plated Cu substrates

OriginalPaper

Optical and photoelectron-chemical properties of TiO2 films by using hydrothermal method

OriginalPaper

Defect based violet–blue emission of Mg doped ZnO annealed at different temperatures

Neuer Inhalt

    Bildnachweise