13.12.2023
2022 JETTA-TTTC Best Paper Award
Zhi-Wei Lai, Po-Hua Huang, and Kuen-Jong Lee, “Using both Stable and Unstable SRAM Bits for the Physical Unclonable Function,” Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Volume 38, Number 5, pp. 511–525, October 2022.
Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 5-6/2023
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