1985 | OriginalPaper | Buchkapitel
Analyse von Sicherheitskritischen Bauteilausfällen in Elektronischen Systemen
verfasst von : M. Thurner
Erschienen in: Mikroelektronik in Österreich
Verlag: Springer Vienna
Enthalten in: Professional Book Archive
Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by
Hier werden grundsätzliche Überlegiingen zur Analyse elektronischer Systeme dargelegt, dann die Analysemethoden selbst dargestellt und anschließend die Probleme erörtert. Abschließend wird noch ein Beispiel gebracht, an dem die Methoden angewandt wurden.