2018 | OriginalPaper | Buchkapitel
8. Applications of CT for Non-destructive Testing and Materials Characterization
verfasst von : Martine Wevers, Bart Nicolaï, Pieter Verboven, Rudy Swennen, Staf Roels, Els Verstrynge, Stepan Lomov, Greet Kerckhofs, Bart Van Meerbeek, Athina M. Mavridou, Lars Bergmans, Paul Lambrechts, Jeroen Soete, Steven Claes, Hannes Claes
Erschienen in: Industrial X-Ray Computed Tomography
Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by