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Journal of Electronic Materials
Erschienen in: Journal of Electronic Materials 5/2012

01.05.2012

Atom Probe Tomography of Zinc Oxide Nanowires

verfasst von: Nabil Dawahre, Gang Shen, Soner Balci, William Baughman, David S. Wilbert, Nick Harris, Lee Butler, Rich Martens, Seongsin Margaret Kim, Patrick Kung

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 5/2012

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Metadaten
Titel
Atom Probe Tomography of Zinc Oxide Nanowires
verfasst von
Nabil Dawahre
Gang Shen
Soner Balci
William Baughman
David S. Wilbert
Nick Harris
Lee Butler
Rich Martens
Seongsin Margaret Kim
Patrick Kung
Publikationsdatum
01.05.2012
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 5/2012
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-011-1803-x

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