Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 10/2013

01.10.2013

Combined effect of substrate temperature and laser energy density on laser ablated BiFeO3 thin films

verfasst von: M. L. Yi, C. B. Wang, Q. Shen, L. M. Zhang

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 10/2013

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

Bismuth ferrite (BiFeO3) thin films were prepared on Pt(111)/Ti/SiO2/Si substrates by laser ablation deposition at various substrate temperature (T sub) and laser energy density (D L). The combined effect of T sub and D L on crystalline phase, preferential orientation and surface morphology of the films were investigated. The microstructure and morphology of the films showed a strong dependence on T sub and D L simultaneously. BiFeO3 thin films with single phase could be prepared at T sub-D L of 893 K−1 J/cm2, 943 K−2 J/cm2 and 963 K−3 J/cm2, respectively. Film deposited at T sub = 963 K and D L = 3 J/cm2 exhibited better ferroelectric property due to the combination of high (111) preferential orientation, dense surface morphology and less Fe2+ content.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
1.
4.
Zurück zum Zitat J.F. Li, J.L. Wang, M. Wuttig, R. Ramesh, N.G. Wang et al., Appl. Phys. Lett. 84, 5261 (2004)CrossRef J.F. Li, J.L. Wang, M. Wuttig, R. Ramesh, N.G. Wang et al., Appl. Phys. Lett. 84, 5261 (2004)CrossRef
5.
Zurück zum Zitat J.B. Neaton, C. Ederer, U.V. Waghmare, N.A. Spaldin, K.M. Rabe, Phys. Revi. B 71, 014113 (2005)CrossRef J.B. Neaton, C. Ederer, U.V. Waghmare, N.A. Spaldin, K.M. Rabe, Phys. Revi. B 71, 014113 (2005)CrossRef
6.
8.
Zurück zum Zitat S.Y. Yang, F. Zavaliche, L. Mohaddes-Ardabili, V. Vaithyanathan, D.G. Schlom, Appl. Phys. Lett. 87, 102903 (2005)CrossRef S.Y. Yang, F. Zavaliche, L. Mohaddes-Ardabili, V. Vaithyanathan, D.G. Schlom, Appl. Phys. Lett. 87, 102903 (2005)CrossRef
9.
Zurück zum Zitat F. Tyholdt, H. Fjellvåg, A.E. Gunnæs, A. Olsen, J. Appl. Phys. 102, 074108 (2007)CrossRef F. Tyholdt, H. Fjellvåg, A.E. Gunnæs, A. Olsen, J. Appl. Phys. 102, 074108 (2007)CrossRef
10.
Zurück zum Zitat S.K. Singh, Y.K. Kim, H. Funakubo, H. Ishiwara, Appl. Phys. Lett. 88, 162904 (2006)CrossRef S.K. Singh, Y.K. Kim, H. Funakubo, H. Ishiwara, Appl. Phys. Lett. 88, 162904 (2006)CrossRef
11.
Zurück zum Zitat H.U. Krebs, M. Weisheit, J. Faupel, E. Suske, Adv. Solid State Phys. 43, 505 (2003)CrossRef H.U. Krebs, M. Weisheit, J. Faupel, E. Suske, Adv. Solid State Phys. 43, 505 (2003)CrossRef
12.
Zurück zum Zitat K.B. Han, C.H. Jeon, H.S. Jeon, S.Y. Lee, Thin Solid Films 437, 285 (2003)CrossRef K.B. Han, C.H. Jeon, H.S. Jeon, S.Y. Lee, Thin Solid Films 437, 285 (2003)CrossRef
13.
Zurück zum Zitat X.M. Fan, J.S. Lian, Z.X. Guo, H.J. Lu, Appl. Surf. Sci. 239, 176 (2005)CrossRef X.M. Fan, J.S. Lian, Z.X. Guo, H.J. Lu, Appl. Surf. Sci. 239, 176 (2005)CrossRef
14.
15.
Zurück zum Zitat S. Singhal, A.K. Chawla, H.M. Gupta, R. Chandra, Thin Solid Films 518, 1402 (2009)CrossRef S. Singhal, A.K. Chawla, H.M. Gupta, R. Chandra, Thin Solid Films 518, 1402 (2009)CrossRef
17.
Zurück zum Zitat S.K. Pradhan, J. Das, P.P. Rout, V.R. Mohanta, S.K. Das et al., J. Phys. Chem. Solids 71, 1557 (2010)CrossRef S.K. Pradhan, J. Das, P.P. Rout, V.R. Mohanta, S.K. Das et al., J. Phys. Chem. Solids 71, 1557 (2010)CrossRef
18.
Zurück zum Zitat M.N. Iliev, A.P. Litvinchuk, V.G. Hadjiev, Phys. Revi. B 81, 024302 (2010)CrossRef M.N. Iliev, A.P. Litvinchuk, V.G. Hadjiev, Phys. Revi. B 81, 024302 (2010)CrossRef
19.
Zurück zum Zitat T. Liu, Y.B. Xu, S.S. Feng, J.Y. Zhao, J. Am. Ceram. Soc. 94, 3060 (2011)CrossRef T. Liu, Y.B. Xu, S.S. Feng, J.Y. Zhao, J. Am. Ceram. Soc. 94, 3060 (2011)CrossRef
20.
Zurück zum Zitat M.K. Singh, H.M. Jang, S. Ryu, M.H. Jo, Appl. Phys. Lett. 88, 042907 (2006)CrossRef M.K. Singh, H.M. Jang, S. Ryu, M.H. Jo, Appl. Phys. Lett. 88, 042907 (2006)CrossRef
21.
Zurück zum Zitat P.S. Patil, P.S. Chigare, S.B. Sadale, T. Seth, D.P. Amalnerkar, R.K. Kawar, Mater. Chem. Phys. 80, 667 (2003)CrossRef P.S. Patil, P.S. Chigare, S.B. Sadale, T. Seth, D.P. Amalnerkar, R.K. Kawar, Mater. Chem. Phys. 80, 667 (2003)CrossRef
22.
Zurück zum Zitat Z.Y. Wang, H.L. Hu, J. Zhao, J. Sun, Z.J. Wang, Vacuum 278, 53 (2005) Z.Y. Wang, H.L. Hu, J. Zhao, J. Sun, Z.J. Wang, Vacuum 278, 53 (2005)
23.
24.
Zurück zum Zitat B.F. Yu, M.Y. Li, J. Liu, D.Y. Guo, L. Pei, X.Z. Zhao, J. Phys. D: Appl. Phys. 41, 1 (2008)CrossRef B.F. Yu, M.Y. Li, J. Liu, D.Y. Guo, L. Pei, X.Z. Zhao, J. Phys. D: Appl. Phys. 41, 1 (2008)CrossRef
Metadaten
Titel
Combined effect of substrate temperature and laser energy density on laser ablated BiFeO3 thin films
verfasst von
M. L. Yi
C. B. Wang
Q. Shen
L. M. Zhang
Publikationsdatum
01.10.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 10/2013
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-013-1344-6

Weitere Artikel der Ausgabe 10/2013

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 10/2013 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt