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2021 | OriginalPaper | Buchkapitel

9. Conclusion and Outlook

verfasst von : Sebastian Huhn, Rolf Drechsler

Erschienen in: Design for Testability, Debug and Reliability

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

The integration of DFT measures is strictly required when designing state-of-the-art ICs to, among others, ensure that a good testability prevails in the resulting design. This testability allows performing high quality manufacturing tests, which give a certain level of confidence that no defects have occurred during the manufacturing process, which potentially tamper the correctness of the functional behavior.

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Literatur
[14]
IEEE Standard for Access and Control of Instrumentation Embedded Within a Semiconductor Device, in IEEE Std 1687-2014 (2014), pp. 1–283
Metadaten
Titel
Conclusion and Outlook
verfasst von
Sebastian Huhn
Rolf Drechsler
Copyright-Jahr
2021
Buch
Design for Testability, Debug and Reliability

Print ISBN: 978-3-030-69208-7

Electronic ISBN: 978-3-030-69209-4

Copyright-Jahr: 2021

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-030-69209-4_9

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