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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 18/2020

20.08.2020 | Publisher Correction

Correction to: A novel impedimetric sensor for trace level detection of dimethyl sulfide (DMS)

verfasst von: Hassan Iden, Ricardo Adriano Dorledo de Faria, Luiz Guilherme Dias Heneine, Tulio Matencio, Younès Messaddeq

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 18/2020

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Metadaten
Titel
Correction to: A novel impedimetric sensor for trace level detection of dimethyl sulfide (DMS)
verfasst von
Hassan Iden
Ricardo Adriano Dorledo de Faria
Luiz Guilherme Dias Heneine
Tulio Matencio
Younès Messaddeq
Publikationsdatum
20.08.2020
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 18/2020
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-020-04197-7

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