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1978 | OriginalPaper | Buchkapitel

Count rate differences with Geiger and proportional counters

verfasst von : R. Jenkins, J. L. de Vries

Erschienen in: Worked Examples in X-Ray Analysis

Verlag: Macmillan Education UK

Enthalten in: Professional Book Archive

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A silicon specimen is being examined using nickel filtered Cu Kα radiation. The intensities of two reflections are measured with a Geiger-Müller counter and the following counting rates obtained:

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Metadaten
Titel
Count rate differences with Geiger and proportional counters
verfasst von
R. Jenkins
J. L. de Vries
Copyright-Jahr
1978
Verlag
Macmillan Education UK
Buch
Worked Examples in X-Ray Analysis

Print ISBN: 978-1-349-03536-6

Electronic ISBN: 978-1-349-03534-2

Copyright-Jahr: 1978

DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-349-03534-2_12

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