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Erschienen in:
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2011 | OriginalPaper | Buchkapitel

6. Design for Test (DFT)

verfasst von : Sanjay Churiwala, Sapan Garg

Erschienen in: Principles of VLSI RTL Design

Verlag: Springer New York

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Abstract

After the design is fully validated for functionality, timing etc. through a lot of rigorous analysis, it is sent for fabrication. After fabrication, the fabricated part is subjected to further testing.

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Metadaten
Titel
Design for Test (DFT)
verfasst von
Sanjay Churiwala
Sapan Garg
Copyright-Jahr
2011
Verlag
Springer New York
Buch
Principles of VLSI RTL Design

Print ISBN: 978-1-4419-9295-6

Electronic ISBN: 978-1-4419-9296-3

Copyright-Jahr: 2011

DOI
https://doi.org/10.1007/978-1-4419-9296-3_6

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