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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 1/2012

01.01.2012

Dielectric relaxation in complex perovskite Ba(Bi1/2Ta1/2)O3

verfasst von: Amodini Mishra, S. N. Choudhary, R. N. P. Choudhary, V. R. K. Murthy, Kamal Prasad

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 1/2012

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Abstract

A new lead-free perovskite Ba(Bi1/2Ta1/2)O3 was prepared by conventional ceramic fabrication technique at 1,200 °C/4 h in air atmosphere. The crystal symmetry, space group and unit cell dimensions were determined from the experimental results using FullProf software. The crystallite size and lattice strain were estimated from Williamson-Hall approach. XRD analysis of the compound indicated the formation of a single-phase cubic structure with the space group Pm3m. EDAX and SEM studies were carried out in order to evaluate the quality and purity of the compound. Permittivity data showed a low temperature coefficient of capacitance (T CC  < 4%) up to +125 °C. Complex impedance analyses suggested the dielectric relaxation to be of non-Debye type. Electric modulus studies supported the hopping type of conduction in Ba(Bi1/2Ta1/2)O3.

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Metadaten
Titel
Dielectric relaxation in complex perovskite Ba(Bi1/2Ta1/2)O3
verfasst von
Amodini Mishra
S. N. Choudhary
R. N. P. Choudhary
V. R. K. Murthy
Kamal Prasad
Publikationsdatum
01.01.2012
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 1/2012
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-011-0380-3

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