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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 10/2016

04.07.2016

Effect of substrate temperature on the optical properties of CaBi4Ti4O15 thin films deposited by pulsed laser ablation

verfasst von: Sivanagi Reddy Emani, K. C. James Raju

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 10/2016

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Abstract

Thin films of CaBi4Ti4O15 (CBTi) were deposited at different substrate temperatures (550–700 °C) using pulsed laser ablation technique. Structural, morphological and linear optical properties of the same were investigated. The CBTi thin films crystallize above 550 °C and forms single phase is confirmed by XRD and Raman spectroscopy. The lattice strain induced during deposition, controls the unit cell volume, grain size and crystallite size. The refractive index, real and imaginary parts of optical dielectric constant and optical band gap were extracted from transmission spectra (190–2500 nm). Tauc’s plot confirmed the direct band gap nature ranging from 3.4 to 3.6 eV. The study on CBTi thin films and their optical properties opens up a new window for optical applications.
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Metadaten
Titel
Effect of substrate temperature on the optical properties of CaBi4Ti4O15 thin films deposited by pulsed laser ablation
verfasst von
Sivanagi Reddy Emani
K. C. James Raju
Publikationsdatum
04.07.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 10/2016
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-016-5189-7

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