Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 10/2015

01.10.2015

Effects of Cr2O3 doping on the microstructural and electrical properties of ZnO–Bi2O3 based varistor films

verfasst von: D. Xu, K. He, B. H. Chen, S. Y. Mu, W. H. Wu, L. Jiao, X. J. Sun, Y. T. Yang

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 10/2015

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

Doping of Bi2O3 has been considered to be the essential condition for ZnO varistors. But there have always been found that Bi2O3 second phases concentrated at grain boundaries will have great effects on electrical properties. We find that the Cr2O3 doping has positive effects on the substitution of Bi3+ into the lattice of ZnO varistor films. With the Cr2O3 doping, the XRD peak intensity of Bi2O3 second phase decreased. And the Bi2O3 peak disappears when the content of the Cr reached 0.3 mol%. Meanwhile, the lattice parameter increases with the Cr2O3 doping. We think those may be caused by the promoted lattice entering of Bi3+ through Cr2O3 doping. The dielectric and varistor properties of ZnO varistor films were greatly improved by Cr2O3 doping. The obvious effects of Cr2O3 doping on the microstructure and electrical properties suggest good candidate of Cr2O3 as the dopant for ZnO–Bi2O3 based varistor films.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
1.
Zurück zum Zitat N. Kakati, S.H. Jee, S.H. Kim, J.Y. Oh, Y.S. Yoon, Thin Solid Films 519(1), 494 (2010)CrossRef N. Kakati, S.H. Jee, S.H. Kim, J.Y. Oh, Y.S. Yoon, Thin Solid Films 519(1), 494 (2010)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat K. Vijayalakshmi, A. Renitta, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 26(6), 3458 (2015)CrossRef K. Vijayalakshmi, A. Renitta, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 26(6), 3458 (2015)CrossRef
4.
Zurück zum Zitat S. Kumar, R. Nigam, V. Kundu, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 26(5), 3268 (2015)CrossRef S. Kumar, R. Nigam, V. Kundu, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 26(5), 3268 (2015)CrossRef
5.
Zurück zum Zitat G.H. Chen, J.L. Li, X. Chen, X.L. Kang, C.L. Yuan, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 26(4), 2389 (2015)CrossRef G.H. Chen, J.L. Li, X. Chen, X.L. Kang, C.L. Yuan, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 26(4), 2389 (2015)CrossRef
6.
Zurück zum Zitat F.M. Hossain, J. Nishii, S. Takagi, A. Ohtomo, T. Fukumura, H. Fujioka, H. Ohno, H. Koinuma, M. Kawasaki, J. Appl. Phys. 94(12), 7768 (2003)CrossRef F.M. Hossain, J. Nishii, S. Takagi, A. Ohtomo, T. Fukumura, H. Fujioka, H. Ohno, H. Koinuma, M. Kawasaki, J. Appl. Phys. 94(12), 7768 (2003)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat S. Bandyopadhyay, G.K. Paul, R. Roy, S.K. Sen, S. Sen, Mater. Chem. Phys. 74(1), 83 (2002)CrossRef S. Bandyopadhyay, G.K. Paul, R. Roy, S.K. Sen, S. Sen, Mater. Chem. Phys. 74(1), 83 (2002)CrossRef
8.
9.
Zurück zum Zitat D. Xu, L.Y. Shi, Z.H. Wu, Q.D. Zhong, X.X. Wu, J. Eur. Ceram. Soc. 29(9), 1789 (2009)CrossRef D. Xu, L.Y. Shi, Z.H. Wu, Q.D. Zhong, X.X. Wu, J. Eur. Ceram. Soc. 29(9), 1789 (2009)CrossRef
10.
Zurück zum Zitat M. Dorraj, Y. Abdollahi, S.B.M. Said, M.F.B. Sabri, N.A. Sairi, W.P. Meng, E. Abouzari-lotf, Rsc Adv. 5(27), 21384 (2015)CrossRef M. Dorraj, Y. Abdollahi, S.B.M. Said, M.F.B. Sabri, N.A. Sairi, W.P. Meng, E. Abouzari-lotf, Rsc Adv. 5(27), 21384 (2015)CrossRef
11.
Zurück zum Zitat Y. Beynet, A. Izoulet, S. Guillemet-Fritsch, G. Chevallier, V. Bley, T. Perel, F. Malpiece, J. Morel, C. Estournes, J. Eur. Ceram. Soc. 35(4), 1199 (2015)CrossRef Y. Beynet, A. Izoulet, S. Guillemet-Fritsch, G. Chevallier, V. Bley, T. Perel, F. Malpiece, J. Morel, C. Estournes, J. Eur. Ceram. Soc. 35(4), 1199 (2015)CrossRef
12.
Zurück zum Zitat F. Chouikh, Y. Beggah, M.S. Aida, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 22(5), 499 (2011)CrossRef F. Chouikh, Y. Beggah, M.S. Aida, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 22(5), 499 (2011)CrossRef
13.
Zurück zum Zitat C.Y. Wang, S.Y. Ma, A.M. Sun, R. Qin, F.C. Yang, X.B. Li, F.M. Li, X.H. Yang, Sensor. Actuat. B-Chem. 193, 326 (2014)CrossRef C.Y. Wang, S.Y. Ma, A.M. Sun, R. Qin, F.C. Yang, X.B. Li, F.M. Li, X.H. Yang, Sensor. Actuat. B-Chem. 193, 326 (2014)CrossRef
15.
Zurück zum Zitat J.S. Park, Y.H. Han, K.H. Choi, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 16(4), 215 (2005)CrossRef J.S. Park, Y.H. Han, K.H. Choi, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 16(4), 215 (2005)CrossRef
16.
Zurück zum Zitat D. Xu, K. He, R.H. Yu, Y. Tong, J.P. Qi, X.J. Sun, Y.T. Yang, H.X. Xu, H.M. Yuan, J. Ma, Mater. Technol. 30(A1), A24 (2015)CrossRef D. Xu, K. He, R.H. Yu, Y. Tong, J.P. Qi, X.J. Sun, Y.T. Yang, H.X. Xu, H.M. Yuan, J. Ma, Mater. Technol. 30(A1), A24 (2015)CrossRef
17.
18.
Zurück zum Zitat Z.J. Peng, X.L. Fu, Y.X. Zang, Z.Q. Fu, C.B. Wang, L.H. Qi, H.Z. Miao, J. Alloys Compd. 508(2), 494 (2010)CrossRef Z.J. Peng, X.L. Fu, Y.X. Zang, Z.Q. Fu, C.B. Wang, L.H. Qi, H.Z. Miao, J. Alloys Compd. 508(2), 494 (2010)CrossRef
19.
Zurück zum Zitat D. Xu, X.N. Cheng, G.P. Zhao, J.A. Yang, L.Y. Shi, Ceram. Int. 37(3), 701 (2011)CrossRef D. Xu, X.N. Cheng, G.P. Zhao, J.A. Yang, L.Y. Shi, Ceram. Int. 37(3), 701 (2011)CrossRef
20.
Zurück zum Zitat M.E. Abrishami, A. Kompany, S.M. Hosseini, J. Electroceram. 29(2), 125 (2012)CrossRef M.E. Abrishami, A. Kompany, S.M. Hosseini, J. Electroceram. 29(2), 125 (2012)CrossRef
21.
Zurück zum Zitat R. Baraki, P. Zierep, E. Erdem, S. Weber, J. Phys-Condens. Mat. 26(11), 115801 (2014)CrossRef R. Baraki, P. Zierep, E. Erdem, S. Weber, J. Phys-Condens. Mat. 26(11), 115801 (2014)CrossRef
22.
Zurück zum Zitat S. Ma, Z.J. Xu, R.Q. Chu, J.G. Hao, L.H. Cheng, G.R. Li, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 25(9), 3878 (2014)CrossRef S. Ma, Z.J. Xu, R.Q. Chu, J.G. Hao, L.H. Cheng, G.R. Li, J. Mater. Sci-Mater. Electron. 25(9), 3878 (2014)CrossRef
23.
Zurück zum Zitat G.H. Chen, J.L. Li, Y. Yang, C.L. Yuan, C.R. Zhou, Mater. Res. Bull. 50, 141 (2014)CrossRef G.H. Chen, J.L. Li, Y. Yang, C.L. Yuan, C.R. Zhou, Mater. Res. Bull. 50, 141 (2014)CrossRef
24.
Zurück zum Zitat D. Xu, X.N. Cheng, M.S. Wang, L.Y. Shi, Adv. Mat. Res. 79–82, 2007 (2009)CrossRef D. Xu, X.N. Cheng, M.S. Wang, L.Y. Shi, Adv. Mat. Res. 79–82, 2007 (2009)CrossRef
25.
Zurück zum Zitat B.R. Huang, C.C. Liao, W.C. Ke, Y.C. Chang, H.P. Huang, N.C. Chen, J. Appl. Phys. 115(11), 113705 (2014)CrossRef B.R. Huang, C.C. Liao, W.C. Ke, Y.C. Chang, H.P. Huang, N.C. Chen, J. Appl. Phys. 115(11), 113705 (2014)CrossRef
26.
Zurück zum Zitat M. Vukovic, G. Brankovic, Z.M. Stanojevic, D. Poleti, Z. Brankovic, J. Eur. Ceram. Soc. 35(6), 1807 (2015)CrossRef M. Vukovic, G. Brankovic, Z.M. Stanojevic, D. Poleti, Z. Brankovic, J. Eur. Ceram. Soc. 35(6), 1807 (2015)CrossRef
27.
Zurück zum Zitat D. Xu, X.N. Cheng, H.M. Yuan, J. Yang, Y.H. Lin, J. Alloys Compd. 509(38), 9312 (2011)CrossRef D. Xu, X.N. Cheng, H.M. Yuan, J. Yang, Y.H. Lin, J. Alloys Compd. 509(38), 9312 (2011)CrossRef
28.
Zurück zum Zitat D. Xu, K. He, R.H. Yu, L. Jiao, H.M. Yuan, X.J. Sun, G.P. Zhao, H.X. Xu, X.N. Cheng, J. Alloys Compd. 592, 220 (2014)CrossRef D. Xu, K. He, R.H. Yu, L. Jiao, H.M. Yuan, X.J. Sun, G.P. Zhao, H.X. Xu, X.N. Cheng, J. Alloys Compd. 592, 220 (2014)CrossRef
29.
Zurück zum Zitat D. Xu, C. Zhang, Y.H. Lin, L. Jiao, H.M. Yuan, G.P. Zhao, X.N. Cheng, J. Alloys Compd. 522, 157 (2012)CrossRef D. Xu, C. Zhang, Y.H. Lin, L. Jiao, H.M. Yuan, G.P. Zhao, X.N. Cheng, J. Alloys Compd. 522, 157 (2012)CrossRef
30.
Zurück zum Zitat D. Xu, B.A. Wang, Y.H. Lin, L. Jiao, H.M. Yuan, G.P. Zhao, X.N. Cheng, Phys. B 407(13), 2385 (2012)CrossRef D. Xu, B.A. Wang, Y.H. Lin, L. Jiao, H.M. Yuan, G.P. Zhao, X.N. Cheng, Phys. B 407(13), 2385 (2012)CrossRef
31.
Zurück zum Zitat G.Z. Zang, F.Z. Zhou, J.X. Cao, X.F. Wang, Z.W. Wang, L.B. Li, G.R. Li, Curr. Appl. Phys. 14(12), 1682 (2014)CrossRef G.Z. Zang, F.Z. Zhou, J.X. Cao, X.F. Wang, Z.W. Wang, L.B. Li, G.R. Li, Curr. Appl. Phys. 14(12), 1682 (2014)CrossRef
32.
Zurück zum Zitat F. Amaral, E. Clemente, M.A. Valente, L.C. Costa, F.M. Costa, Ceram. Int. 40(10), 16503 (2014)CrossRef F. Amaral, E. Clemente, M.A. Valente, L.C. Costa, F.M. Costa, Ceram. Int. 40(10), 16503 (2014)CrossRef
33.
Zurück zum Zitat D. Xu, K. He, R. Yu, X. Sun, Y. Yang, H. Xu, H. Yuan, J. Ma, Mater. Chem. Phys. 153, 229 (2015)CrossRef D. Xu, K. He, R. Yu, X. Sun, Y. Yang, H. Xu, H. Yuan, J. Ma, Mater. Chem. Phys. 153, 229 (2015)CrossRef
Metadaten
Titel
Effects of Cr2O3 doping on the microstructural and electrical properties of ZnO–Bi2O3 based varistor films
verfasst von
D. Xu
K. He
B. H. Chen
S. Y. Mu
W. H. Wu
L. Jiao
X. J. Sun
Y. T. Yang
Publikationsdatum
01.10.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 10/2015
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-015-3443-z

Weitere Artikel der Ausgabe 10/2015

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 10/2015 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt