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Erschienen in: Journal of Electronic Materials 12/2014

01.12.2014

Effects of Electromigration on the Creep and Thermal Fatigue Behavior of Sn58Bi Solder Joints

verfasst von: Yong Zuo, Limin Ma, Fu Guo, Lei Qiao, Yutian Shu, Andree Lee, K. N. Subramanian

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 12/2014

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Metadaten
Titel
Effects of Electromigration on the Creep and Thermal Fatigue Behavior of Sn58Bi Solder Joints
verfasst von
Yong Zuo
Limin Ma
Fu Guo
Lei Qiao
Yutian Shu
Andree Lee
K. N. Subramanian
Publikationsdatum
01.12.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 12/2014
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-014-3345-5

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