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Erschienen in:

2021 | OriginalPaper | Buchkapitel

7. Embedded Multichannel Test Compression for Low-Pin Count Test

verfasst von : Sebastian Huhn, Rolf Drechsler

Erschienen in: Design for Testability, Debug and Reliability

Verlag: Springer International Publishing

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The latest accomplishments in the field of design and manufacturing of ICs enable entirely new application scenarios. For instance, the newest generation of electronic control units integrates a large number of sophisticated onboard ICs to implement advanced driver-assistance systems.

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Note that a maximal scan chain length of 1,024 elements is considered.

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Titel: Embedded Multichannel Test Compression for Low-Pin Count Test
verfasst von: Sebastian Huhn
Rolf Drechsler
Verlag: Springer International Publishing
Buch: Design for Testability, Debug and Reliability
Print ISBN: 978-3-030-69208-7

Electronic ISBN: 978-3-030-69209-4

Copyright-Jahr: 2021
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-030-69209-4_7

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