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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 3/2020

06.01.2020

Enhanced pyroelectric figure of merits in Sr and Zr co-doped porous BaTiO3 ceramics

verfasst von: Mehak Aggarwal, Manoj Kumar, Rajat Syal, V. P. Singh, Arun Kumar Singh, Shobhna Dhiman, Sanjeev Kumar

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 3/2020

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Abstract

Porous Ba0.85Sr0.15Zr0.1Ti0.9O3 (BSZT + X wt% Poly-vinyl alcohol (PVA)) with X = 0, 5, 10, 15 ceramics were prepared by the conventional solid-state reaction method. Structural, dielectric, ferroelectric, and pyroelectric properties were systematically investigated with the increase in pore-forming agent PVA. X-ray diffraction (XRD) pattern shows co-existence of tetragonal and orthorhombic symmetries with space group P4mm and Amm2, respectively. Microstructure depicts the pore density in the ceramic samples increases with increase in PVA content. The temperature-dependent dielectric analysis illustrates that there is no change in Curie temperature (Tc ~ 327K) with the increase in PVA. Dielectric constant value decreases and dielectric loss increases with increase in PVA. The pyroelectric coefficient increases with the applied field and decreases with an increase in PVA. We observed strongly enhanced pyroelectric figure of merits (FOMs) with an increase in porosity content. At room temperature, porous BSZT ceramic sample (BSZT + 15 wt% PVA) exhibits a 29.17% increase in pyroelectric energy harvesting figure of merit Fe, 101.73% increase in energy harvesting figure of merit Fe*, 81.93% increase in voltage responsivity Fv, 10.95% increase in current responsivity Fi, 24.97% increase in detectivity-based FOM compared to dense ceramic sample. The enhancement in these FOMs is useful in the development of pyroelectric devices.

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Metadaten
Titel
Enhanced pyroelectric figure of merits in Sr and Zr co-doped porous BaTiO3 ceramics
verfasst von
Mehak Aggarwal
Manoj Kumar
Rajat Syal
V. P. Singh
Arun Kumar Singh
Shobhna Dhiman
Sanjeev Kumar
Publikationsdatum
06.01.2020
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 3/2020
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-019-02766-z

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