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Erschienen in:
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2020 | OriginalPaper | Buchkapitel

Evaluation of Radiation Hardness of the Bipolar Devices in the Space Conditions

verfasst von : A. S. Rodin, A. S. Bakerenkov, V. A. Felitsyn, V. S. Pershenkov, V. A. Telets

Erschienen in: 4th International Conference on Nanotechnologies and Biomedical Engineering

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

Real time dependence of operation temperature, which is typical for space environment, was taken into account in the numerical simulation of radiation degradation of LM111 bipolar voltage comparator input current. The technique and results of performed numerical analyses are presented and discussed.

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12.
Metadaten
Titel
Evaluation of Radiation Hardness of the Bipolar Devices in the Space Conditions
verfasst von
A. S. Rodin
A. S. Bakerenkov
V. A. Felitsyn
V. S. Pershenkov
V. A. Telets
Copyright-Jahr
2020
Buch
4th International Conference on Nanotechnologies and Biomedical Engineering

Print ISBN: 978-3-030-31865-9

Electronic ISBN: 978-3-030-31866-6

Copyright-Jahr: 2020

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-030-31866-6_143

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