Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 21/2018

06.09.2018

Fabrication and microwave dielectric properties of the x(Ca0.8Na0.1Sm0.1)TiO3–(1 − x)(Sm0.5Nd0.5)AlO3 ceramic system

verfasst von: Yu-nan Li, Shifeng Yuan, Shaobo An, Shuting Niu, Juan Jiang, Lin Gan, Tianjin Zhang

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 21/2018

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

The x(Ca0.8Na0.1Sm0.1)TiO3–(1 − x)(Sm0.5Nd0.5)AlO3 (CNST–SNA, 0.60 ≤ x ≤ 0.75) ceramic materials were prepared by a conventional two-step solid-state reaction route. The effects of the sintering temperature and composition on the phases, microstructures, and microwave dielectric properties were investigated. The optimal sintering temperature of the CNST–SNA ceramics was found at 1475 °C. The optimal microwave dielectric properties were achieved at x = 0.69 with εr = 43.8, Q × f = 34303 GHz (at 5.968 GHz), and τf = − 1.64 ppm/°C.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
1.
Zurück zum Zitat Z.R. Jia, K.J. Lin, G.L. Wu, H. Xing, H.J. Wu, Nano. 13, 1830005 (2018)CrossRef Z.R. Jia, K.J. Lin, G.L. Wu, H. Xing, H.J. Wu, Nano. 13, 1830005 (2018)CrossRef
2.
Zurück zum Zitat G. Dou, M. Guo, Y.X. Li, J.N. Lin, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 9195–9199 (2015)CrossRef G. Dou, M. Guo, Y.X. Li, J.N. Lin, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 9195–9199 (2015)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat G.L. Wu, Y.H. Cheng, Z.D. Wang, K.K. Wang, A.L. Feng, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 28, 576–581 (2017)CrossRef G.L. Wu, Y.H. Cheng, Z.D. Wang, K.K. Wang, A.L. Feng, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 28, 576–581 (2017)CrossRef
4.
Zurück zum Zitat Y. Zhou, Y.M. Li, Y. Qiao, R. Feng, J. Alloy. Compd. 747, 55–59 (2018)CrossRef Y. Zhou, Y.M. Li, Y. Qiao, R. Feng, J. Alloy. Compd. 747, 55–59 (2018)CrossRef
5.
Zurück zum Zitat G.L. Wu, J.L. Li, K.K. Wang, Y.Q. Wang, C. Pan, A.L. Feng, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 28, 6544–6551 (2017)CrossRef G.L. Wu, J.L. Li, K.K. Wang, Y.Q. Wang, C. Pan, A.L. Feng, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 28, 6544–6551 (2017)CrossRef
6.
Zurück zum Zitat Y. Yang, H. Hao, L. Zhang, C. Chen, Z.P. Luo, Z. Liu, Z.H. .Yao, M.H. Cao, H.X. Liu, Ceram. Int. 44, 11109–11115 (2018)CrossRef Y. Yang, H. Hao, L. Zhang, C. Chen, Z.P. Luo, Z. Liu, Z.H. .Yao, M.H. Cao, H.X. Liu, Ceram. Int. 44, 11109–11115 (2018)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat G.L. Wu, Y.Q. Wang, K.K. Wang, A.L. Feng, RSC Adv. 6, 102542–102548 (2016)CrossRef G.L. Wu, Y.Q. Wang, K.K. Wang, A.L. Feng, RSC Adv. 6, 102542–102548 (2016)CrossRef
8.
Zurück zum Zitat G. Dou, M. Guo, Y.X. Li, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 27, 359–364 (2016)CrossRef G. Dou, M. Guo, Y.X. Li, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 27, 359–364 (2016)CrossRef
9.
Zurück zum Zitat Y. Yang, R.L. Fu, S. Agathopoulos, Y. Xu, J. Cai, Ceram. Int. 42, 18108–18115 (2016)CrossRef Y. Yang, R.L. Fu, S. Agathopoulos, Y. Xu, J. Cai, Ceram. Int. 42, 18108–18115 (2016)CrossRef
10.
Zurück zum Zitat M. Guo, G. Dou, Y.X. Li, S.P. Gong, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 608–612 (2015)CrossRef M. Guo, G. Dou, Y.X. Li, S.P. Gong, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 608–612 (2015)CrossRef
11.
12.
Zurück zum Zitat F.F. Ning, L. Gan, S.F. Yuan, Z.M. Qi, J. Jiang, T.J. Zhang, J. Alloy. Compd. 729, 742–748 (2017)CrossRef F.F. Ning, L. Gan, S.F. Yuan, Z.M. Qi, J. Jiang, T.J. Zhang, J. Alloy. Compd. 729, 742–748 (2017)CrossRef
13.
Zurück zum Zitat W.T. Xie, Q.X. Jiang, Q.L. Cao, H.Q. Zhou, L.C. Ren, X.F. Luo, Ceram. Int. 42, 16552–16556 (2016)CrossRef W.T. Xie, Q.X. Jiang, Q.L. Cao, H.Q. Zhou, L.C. Ren, X.F. Luo, Ceram. Int. 42, 16552–16556 (2016)CrossRef
14.
15.
Zurück zum Zitat P.L. Wise, I.M. Reaney, W.E. Lee, T.J. Price, D.M. Iddles, D.S. Cannell, J. Eur. Ceram. Soc. 21, 1723–1726 (2001)CrossRef P.L. Wise, I.M. Reaney, W.E. Lee, T.J. Price, D.M. Iddles, D.S. Cannell, J. Eur. Ceram. Soc. 21, 1723–1726 (2001)CrossRef
16.
Zurück zum Zitat B. Jancar, D. Suvorov, M. Valant, G. Drazic, J. Eur. Ceram. Soc. 23, 1391–1400 (2003)CrossRef B. Jancar, D. Suvorov, M. Valant, G. Drazic, J. Eur. Ceram. Soc. 23, 1391–1400 (2003)CrossRef
17.
Zurück zum Zitat B. Jancar, M. Valant, D. Suvorov, Chem. Mater. 16, 1075–1082 (2004)CrossRef B. Jancar, M. Valant, D. Suvorov, Chem. Mater. 16, 1075–1082 (2004)CrossRef
18.
Zurück zum Zitat D. Suvorov, M. Valant, B. Jancar, S. Skapin, Acta Chim. Slov. 48, 87–99 (2001) D. Suvorov, M. Valant, B. Jancar, S. Skapin, Acta Chim. Slov. 48, 87–99 (2001)
19.
Zurück zum Zitat Q.X. Jiang, W.T. Xie, Q.L. Cao, H.X. Xu, H.Q. Zhou, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 27, 9078–9082 (2016)CrossRef Q.X. Jiang, W.T. Xie, Q.L. Cao, H.X. Xu, H.Q. Zhou, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 27, 9078–9082 (2016)CrossRef
20.
Zurück zum Zitat F. Liang, M. Ni, W.Z. Lu, G.F. Han, J. Alloy. Compd. 568, 11–15 (2013)CrossRef F. Liang, M. Ni, W.Z. Lu, G.F. Han, J. Alloy. Compd. 568, 11–15 (2013)CrossRef
21.
Zurück zum Zitat F. Liu, J.J. Qu, C.L. Yuan, G.H. Chen, P.P. Qin, X.P. Huang, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 28, 3052–3059 (2017)CrossRef F. Liu, J.J. Qu, C.L. Yuan, G.H. Chen, P.P. Qin, X.P. Huang, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 28, 3052–3059 (2017)CrossRef
22.
Zurück zum Zitat L.X. Li, S. Li, T. Tian, X.S. Lyu, J. Ye, H. Sun, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 27, 1286–1292 (2016)CrossRef L.X. Li, S. Li, T. Tian, X.S. Lyu, J. Ye, H. Sun, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 27, 1286–1292 (2016)CrossRef
23.
Zurück zum Zitat E.S. Kim, B.S. Chun, D.H. Kang, J. Eur. Ceram. Soc. 27, 3005–3010 (2007)CrossRef E.S. Kim, B.S. Chun, D.H. Kang, J. Eur. Ceram. Soc. 27, 3005–3010 (2007)CrossRef
24.
Zurück zum Zitat J.J. Qu, C.L. Yuan, F. Liu, X.Y. Liu, G.H. Chen, P.P. Qin, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 4862–4869 (2015)CrossRef J.J. Qu, C.L. Yuan, F. Liu, X.Y. Liu, G.H. Chen, P.P. Qin, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 4862–4869 (2015)CrossRef
25.
Zurück zum Zitat S.S. Rajput, S. Keshri, V.R. Gupta, J. Alloy. Compd. 552, 219–226 (2013)CrossRef S.S. Rajput, S. Keshri, V.R. Gupta, J. Alloy. Compd. 552, 219–226 (2013)CrossRef
26.
Zurück zum Zitat G.L. Wu, Y.H. Cheng, Z.H. Yang, Z.R. Jia, H.J. Wu, L.J. Yang, H.L. Li, P.Z. Guo, H.L. Lv, Chem. Eng. J. 333, 519–528 (2018)CrossRef G.L. Wu, Y.H. Cheng, Z.H. Yang, Z.R. Jia, H.J. Wu, L.J. Yang, H.L. Li, P.Z. Guo, H.L. Lv, Chem. Eng. J. 333, 519–528 (2018)CrossRef
Metadaten
Titel
Fabrication and microwave dielectric properties of the x(Ca0.8Na0.1Sm0.1)TiO3–(1 − x)(Sm0.5Nd0.5)AlO3 ceramic system
verfasst von
Yu-nan Li
Shifeng Yuan
Shaobo An
Shuting Niu
Juan Jiang
Lin Gan
Tianjin Zhang
Publikationsdatum
06.09.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 21/2018
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-018-9982-3

Weitere Artikel der Ausgabe 21/2018

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 21/2018 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt