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Erschienen in: Journal of Failure Analysis and Prevention 1/2016

01.02.2016 | Technical Article---Peer-Reviewed

Full Length Symmetric Versus Partial Length Un-symmetric Pin Loading Failure and Analysis for Clevis Attachments

verfasst von: Amir Javidinejad

Erschienen in: Journal of Failure Analysis and Prevention | Ausgabe 1/2016

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Abstract

In this paper, testing failure of the clevis–pin attachments for full length symmetric versus partial length un-symmetric configuration is considered. Theoretically and analytically it can be shown that due to higher stress levels in the partial length un-symmetric pin clevis configuration failure occurs sooner than in a full length symmetric pin clevis configuration. However, here by placement of the two different configurations at opposite ends of one axial tensile test setup the theory was put in test. The test results also indicated that the partial length clevis–pin attachment fails sooner than the full length clevis–pin attachment. Experimental procedures are described here in this paper. Both theoretical and finite element analyses are performed to validate the failure.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat B. Pechatsko, J. Stambolia, E.B. Shields, J.B. Davenport, A.D. Orning, Stress analysis of a pin and clevis assembly, in ASME 2003 Pressure Vessels and Piping Conference (ASME, New York, 2003) B. Pechatsko, J. Stambolia, E.B. Shields, J.B. Davenport, A.D. Orning, Stress analysis of a pin and clevis assembly, in ASME 2003 Pressure Vessels and Piping Conference (ASME, New York, 2003)
2.
Zurück zum Zitat W.C. Young, Roark’s Formulas for Stress and Strain (McGraw-Hill, New York, 1989) W.C. Young, Roark’s Formulas for Stress and Strain (McGraw-Hill, New York, 1989)
Metadaten
Titel
Full Length Symmetric Versus Partial Length Un-symmetric Pin Loading Failure and Analysis for Clevis Attachments
verfasst von
Amir Javidinejad
Publikationsdatum
01.02.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Failure Analysis and Prevention / Ausgabe 1/2016
Print ISSN: 1547-7029
Elektronische ISSN: 1864-1245
DOI
https://doi.org/10.1007/s11668-015-0046-1

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