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Erschienen in: Technical Physics 11/2023

01.11.2023

Impact Fracture of Crystalline, Ar+-amorphized, and Amorphous Silicon Dioxide

verfasst von: I. P. Shcherbakov, A. E. Chmel

Erschienen in: Technical Physics | Ausgabe 11/2023

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Abstract

The mechanical fracture of silicon dioxide initiates the mechanoluminescence (ML) lighting due to multiple breakage of interatomic bonds with producing non-bridged oxygen groups of [≡Si–O]. The detected ML signals consisted of series of pulses, the energy of which is proportional to the number of photons irradiated from the broken bonds. The comparative analysis of the energy distributions in ML series induced by the impact damage of the surface of crystalline and vitreous SiO2 before and after the Ar+-ion implantation was conducted. The interplay between random and correlated accumulation of broken bonds under the impact loading was found and discussed.

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Literatur
5.
Zurück zum Zitat D. Shamiryan, D. V. Likhachev. Spectroscopic Ellipsometry of Ion-Implantation-Induced Damage. In: Ion Implantation. Ed. M. Goorsky (InTech, Rijeka, Croatia, 2012), p. 89–104. D. Shamiryan, D. V. Likhachev. Spectroscopic Ellipsometry of Ion-Implantation-Induced Damage. In: Ion Implantation. Ed. M. Goorsky (InTech, Rijeka, Croatia, 2012), p. 89–104.
6.
Zurück zum Zitat P. C. Basu, P. Labbe, D. J. Naus. 22nd Conf. on Structural Mechanics in Reactor Technology, Division 6. San Francisco, USA, 2013. P. C. Basu, P. Labbe, D. J. Naus. 22nd Conf. on Structural Mechanics in Reactor Technology, Division 6. San Francisco, USA, 2013.
Metadaten
Titel
Impact Fracture of Crystalline, Ar+-amorphized, and Amorphous Silicon Dioxide
verfasst von
I. P. Shcherbakov
A. E. Chmel
Publikationsdatum
01.11.2023
Verlag
Pleiades Publishing
Erschienen in
Technical Physics / Ausgabe 11/2023
Print ISSN: 1063-7842
Elektronische ISSN: 1090-6525
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063784223900747

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