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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 17/2017

13.05.2017

Improving the performance of organic light-emitting devices by incorporating non-doped TCNQ as electron buffer layer

verfasst von: Juan Zhang, Liwen Xin, Jian Gao, Yang Liu, Hongsong Rui, Xin Lin, Yulin Hua, Xiaoming Wu, Shougen Yin

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 17/2017

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Abstract

The performance of organic light-emitting devices (OLEDs) is improved by inserting non-doped tetracyanoquinodimethane (TCNQ) electron buffer layer (EBL) between 4,7-diphnenyl-1,10-phe-nanthroline (Bphen) electron transport layer (ETL) and LiF/Al cathode. By optimizing the thickness of TCNQ layer, we find that the device with 6 nm TCNQ buffer layer can achieve the best performance. The maximum luminance, current efficiency, power efficiency and half-lifetime of the optimal device are increased by 27.32, 51.70, 127.55, and 73.89%, respectively, compared with those of the control device without TCNQ buffer layer. This improvement can be attributed to that the insertion of non-doped TCNQ buffer layer which is a simple approach can enhance the electron injection and operational stability of the devices. Moreover, we have carried out the tests of the atomic force microscope (AFM), scanning electron microscopy (SEM) and Kelvin probe to explore the effect of insering TCNQ. These tests results further verify that TCNQ layer not only smooth the surface of the films but also improve the electron injection and transport characteristics. As a result, the performances of the OLEDs can be effectively improved.

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Metadaten
Titel
Improving the performance of organic light-emitting devices by incorporating non-doped TCNQ as electron buffer layer
verfasst von
Juan Zhang
Liwen Xin
Jian Gao
Yang Liu
Hongsong Rui
Xin Lin
Yulin Hua
Xiaoming Wu
Shougen Yin
Publikationsdatum
13.05.2017
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 17/2017
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-017-7103-3

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