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Erschienen in: Journal of Electronic Materials 4/2021

03.02.2021 | Original Research Article

Influence of Temperature and Thickness on the Thermoelectric Power of Nanocrystalline Na-DDQ Thin Film and Its Diode Application

verfasst von: W. M. Desoky, M. M. El-Nahass, Mahmoud S. Dawood

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 4/2021

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Abstract

Sodium-2,3-dicyano-5,6-dichloro-1,4-benzo-quinone, Na-DDQ in thin film form was synthesized using thermal evaporation onto glass fiber and p-Si single crystal substrates to measure thermoelectric properties and current–voltage (IV) characterization of a Au/n-NaDDQ/p-Si/Al device, respectively. The thermoelectric power of different Na-DDQ film thicknesses were obtained at different temperatures using the differential method. Subsequently, the thermoelectric parameters such as Seeback coefficient (S), charge carrier mobility (μ), charge carrier concentration (n) and activation energy (ΔE) were extracted. In addition, for application, the current–voltage (IV) characterization in forward and reverse bias and its temperature reliance of the Au/n-NaDDQ/p-Si/Al device in dark environment were studied. Therefore, this allows the calculation of some crucial parameters of device fabrication such as series and shunt resistance (Rs, Rsh), quality factor (m) and height of the potential barrier (φ). Furthermore, in a dim chamber the capacitance–voltage (CV) characteristics were investigated at room temperature to evaluate the junction built-in potential at 1 MHz of the Au/n-NaDDQ/p-Si/Al device.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat Y. Zhang, Y. Xichuan, W. Wang, X. Wang, and L. Sun, J. Energy Chem. 27(2), 413 (2018).CrossRef Y. Zhang, Y. Xichuan, W. Wang, X. Wang, and L. Sun, J. Energy Chem. 27(2), 413 (2018).CrossRef
2.
Zurück zum Zitat L. Chen, S. Liu, L. Zhao, and Y. Zhao, Electrochim. Acta 258, 677 (2017).CrossRef L. Chen, S. Liu, L. Zhao, and Y. Zhao, Electrochim. Acta 258, 677 (2017).CrossRef
4.
Zurück zum Zitat V. Ganesan, S. Rosokha, and J. Kochi, J. Am. Chem. Soc. 125, 2559 (2003).CrossRef V. Ganesan, S. Rosokha, and J. Kochi, J. Am. Chem. Soc. 125, 2559 (2003).CrossRef
5.
Zurück zum Zitat S. Mohamud, V. Phuoc, L. Campo, N. Massa, and S. Pagola, Synth. Met. 214, 71 (2016).CrossRef S. Mohamud, V. Phuoc, L. Campo, N. Massa, and S. Pagola, Synth. Met. 214, 71 (2016).CrossRef
7.
8.
Zurück zum Zitat Z. Zhou, K. Chen, X. Li, S. Zhang, Y. Wu, Y. Zhou, K. Meng, C. Sun, Q. He, W. Fan, E. Fan, Z. Lin, X. Tan, W. Deng, J. Yang, and J. Chen, Nat. Electron. 3, 571 (2020).CrossRef Z. Zhou, K. Chen, X. Li, S. Zhang, Y. Wu, Y. Zhou, K. Meng, C. Sun, Q. He, W. Fan, E. Fan, Z. Lin, X. Tan, W. Deng, J. Yang, and J. Chen, Nat. Electron. 3, 571 (2020).CrossRef
9.
Zurück zum Zitat H. Yin, K. Hui, X. Zhao, S. Mei, X. Lv, K. Hui, J. Chen, and A.C.S. Appl, H. Yin, K. Hui, X. Zhao, S. Mei, X. Lv, K. Hui, and J. Chen, ACS Appl. Energy Mater. 3(7), 6897 (2020).CrossRef H. Yin, K. Hui, X. Zhao, S. Mei, X. Lv, K. Hui, J. Chen, and A.C.S. Appl, H. Yin, K. Hui, X. Zhao, S. Mei, X. Lv, K. Hui, and J. Chen, ACS Appl. Energy Mater. 3(7), 6897 (2020).CrossRef
10.
Zurück zum Zitat G. Zan, T. Wu, P. Hu, Y. Zhou, S. Zhao, S. Xu, J. Chen, Y. Cui, and Q. Wu, Energy Storage Mater. 28, 82 (2020).CrossRef G. Zan, T. Wu, P. Hu, Y. Zhou, S. Zhao, S. Xu, J. Chen, Y. Cui, and Q. Wu, Energy Storage Mater. 28, 82 (2020).CrossRef
11.
Zurück zum Zitat L. Lv, D. Zha, Y. Ruan, Z. Li, X. Ao, J. Zheng, J. Jiang, H. Chen, W. Chiang, J. Chen, and C. Wang, ACS Nano 12, 3042 (2018).CrossRef L. Lv, D. Zha, Y. Ruan, Z. Li, X. Ao, J. Zheng, J. Jiang, H. Chen, W. Chiang, J. Chen, and C. Wang, ACS Nano 12, 3042 (2018).CrossRef
12.
Zurück zum Zitat W. Hengjia, Z. Songlin, C. Weiwei, B. Xu, C. Zhixiang, Y. Wu, X. Luo, X. Wei, Z. Liu, W. Gu, E. Alexander, Z. Chengzhou, and J. Chen, Mater. Horiz. 7, 2407 (2020).CrossRef W. Hengjia, Z. Songlin, C. Weiwei, B. Xu, C. Zhixiang, Y. Wu, X. Luo, X. Wei, Z. Liu, W. Gu, E. Alexander, Z. Chengzhou, and J. Chen, Mater. Horiz. 7, 2407 (2020).CrossRef
13.
Zurück zum Zitat Y. Su, T. Yang, X. Zhao, Z. Cai, G. Chen, M. Yao, K. Chen, M. Bick, J. Wang, S. Li, G. Xie, H. Tai, X. Du, Y. Jiang, and J. Chen, Nano Energy 74, 104941 (2020).CrossRef Y. Su, T. Yang, X. Zhao, Z. Cai, G. Chen, M. Yao, K. Chen, M. Bick, J. Wang, S. Li, G. Xie, H. Tai, X. Du, Y. Jiang, and J. Chen, Nano Energy 74, 104941 (2020).CrossRef
14.
15.
Zurück zum Zitat K. Walzer, B. Maennig, M. Pfeiffer, and K. Leo, Chem. Rev. 107, 1233 (2007).CrossRef K. Walzer, B. Maennig, M. Pfeiffer, and K. Leo, Chem. Rev. 107, 1233 (2007).CrossRef
16.
Zurück zum Zitat Y. Watanabe, H. Sasabe, and J. Kido, Bull. Chem. Soc. Jpn. 92, 716 (2019).CrossRef Y. Watanabe, H. Sasabe, and J. Kido, Bull. Chem. Soc. Jpn. 92, 716 (2019).CrossRef
17.
Zurück zum Zitat D. Ravinder, G. Kumar, and Y. Venudhar, J. Alloys Comp. 363, 6 (2004).CrossRef D. Ravinder, G. Kumar, and Y. Venudhar, J. Alloys Comp. 363, 6 (2004).CrossRef
18.
Zurück zum Zitat M.M. El-Nahass, A.A. Attia, H.A.M. Ali, G.F. Salem, and M.I. Ismail, Chaos Solitons Fractals 95, 52 (2017).CrossRef M.M. El-Nahass, A.A. Attia, H.A.M. Ali, G.F. Salem, and M.I. Ismail, Chaos Solitons Fractals 95, 52 (2017).CrossRef
19.
Zurück zum Zitat W.M. Desoky, M.S. Dawood, and M.M. El-Nahass, Optik 182, 1053 (2019) W.M. Desoky, M.S. Dawood, and M.M. El-Nahass, Optik 182, 1053 (2019)
20.
Zurück zum Zitat H.S. Soliman, A.M.A. El-Barry, N.M. Khosifan, and M.M. El Nahass, Eur. Phys. J. Appl. Phys. 37, 1 (2007).CrossRef H.S. Soliman, A.M.A. El-Barry, N.M. Khosifan, and M.M. El Nahass, Eur. Phys. J. Appl. Phys. 37, 1 (2007).CrossRef
21.
Zurück zum Zitat R.T. Weitz, S. Rauschenbach, A. Forment-Aliaga, M. Burghard, and K. Kern, Phys. Stat. Sol. b 244, 4346 (2007).CrossRef R.T. Weitz, S. Rauschenbach, A. Forment-Aliaga, M. Burghard, and K. Kern, Phys. Stat. Sol. b 244, 4346 (2007).CrossRef
23.
Zurück zum Zitat H.E. Atyia and A.M.A. El-Barry, Chalcogenide Lett. 3, 41 (2006). H.E. Atyia and A.M.A. El-Barry, Chalcogenide Lett. 3, 41 (2006).
24.
Zurück zum Zitat Z.H. Khan, M. Zulfequar, M. Ilyas, and M. Husain, Acta. Phys. Pol. A 98, 93 (2000).CrossRef Z.H. Khan, M. Zulfequar, M. Ilyas, and M. Husain, Acta. Phys. Pol. A 98, 93 (2000).CrossRef
25.
Zurück zum Zitat V. Patil, P. Joshi, M. Chougule, and S. Sen, Soft Nanosci. Lett. 2, 1 (2012).CrossRef V. Patil, P. Joshi, M. Chougule, and S. Sen, Soft Nanosci. Lett. 2, 1 (2012).CrossRef
26.
Zurück zum Zitat M.M. El-Nahass, H.M. Zeyada, and A.A. Hendi, Eur. Phys. J. Appl. Phys. 25, 85 (2004).CrossRef M.M. El-Nahass, H.M. Zeyada, and A.A. Hendi, Eur. Phys. J. Appl. Phys. 25, 85 (2004).CrossRef
29.
30.
Zurück zum Zitat M.M. El-Nahass, M.A. Kamel, A.A. Atta, and S.Y. Huthaily, Mater. Chem. Phys. 137, 716 (2013).CrossRef M.M. El-Nahass, M.A. Kamel, A.A. Atta, and S.Y. Huthaily, Mater. Chem. Phys. 137, 716 (2013).CrossRef
Metadaten
Titel
Influence of Temperature and Thickness on the Thermoelectric Power of Nanocrystalline Na-DDQ Thin Film and Its Diode Application
verfasst von
W. M. Desoky
M. M. El-Nahass
Mahmoud S. Dawood
Publikationsdatum
03.02.2021
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Materials / Ausgabe 4/2021
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI
https://doi.org/10.1007/s11664-021-08755-5

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