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Erschienen in:
2016 | OriginalPaper | Buchkapitel
10. Leiterplattenschirmung
verfasst von : Frank Gräbner
Erschienen in: EMV-gerechte Schirmung
Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden
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Zusammenfassung
Im folgenden Kapitel wird die Anwendung der neu entwickelten Nanoferritschicht als absorbierende Zwischenschicht auf einer Testleiterplattenstruktur diskutiert. Ein einfacher Streifenresonator koppelt Oberwellen höherer Frequenz aus, welche ein einfaches Oszillatorbauelement erzeugt (Abb. 10.1 und 10.2).
Der mögliche Testaufbau der neuartigen HF-Leiterplatte sieht wie in der folgenden (Abb. 10.3) aus.
Es wurde nach Abb. 10.2 und 10.3 eine Teststruktur aufgebaut, welche jeweils eine Störoberwelle je Frequenz mit einer alten Leiterplattenstruktur auskoppelt, und zum Vergleich wurde eine neue Leiterplattenstruktur (Ferritschicht) konstruiert. Die jeweils gedämpfte elektromagnetische Störstrahlung wurde nun mit der alten Leiterplatte (ohne Ferritschicht) und der neuartigen Leiterplatte (mit Ferritschicht) verglichen.
Es zeigte sich, dass die Werte der Reflektionsdämpfung der Schicht sich auf die Dämpfung der elektromagnetischen Funkstörfeldstärke übertragen lassen.
In Abb. 10.4a ist die Funkstörfeldstärke der Teststruktur des Oszillators mit Streifenleitung auf der Multilayerleiterplatte ohne absorbierende Schicht zu sehen. In Abb. 10.4b wird dieselbe Struktur diesmal mit einer absorbierenden Schicht dargestellt.
Zur Simulation der Testleiterplatte wurde das Programm SONNET verwendet. Dabei wird angenommen, dass sich die Leiterplatte in einer allseitig geschlossenen Box befindet.