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Erschienen in: Journal of Electroceramics 2-3/2012

01.05.2012

High temperature electronic properties of BaTiO3 – Bi(Zn1/2Ti1/2)O3 – BiInO3 for capacitor applications

verfasst von: Natthaphon Raengthon, David P. Cann

Erschienen in: Journal of Electroceramics | Ausgabe 2-3/2012

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Abstract

Solid solutions xBaTiO3 – (1-x)(0.5Bi(Zn1/2Ti1/2)O3 – 0.5BiInO3), where x = 0.95–0.60, were prepared by conventional mixed oxide method. The single phase perovskite structure was obtained for the composition with x ≥ 0.75. Phase transformation from tetragonal to pseudocubic was observed from x-ray diffraction patterns when x decreased from 0.95 to 0.75. In tetragonal phase region, x ≥ 0.90, the increase of Bi(Zn1/2Ti1/2)O3 – BiInO3 content decreased the tetragonality and the temperature at which the relative permittivity is maximum (Tmax). The increase in lattice parameter and Tmax were observed in the pseudocubic phase region, x < 0.90. Additionally, a highly broad and diffuse phase transition was observed from the dielectric data in the pseudocubic phase region. The introduction of Ba vacancies in compositions with x = 0.80 and 0.75 also improved dielectric loss at high temperatures. The incorporation of BiInO3 into the BaTiO3 – Bi(Zn1/2Ti1/2)O3 compound was also found to improve the temperature coefficient of the relative permittivity, with values as low as approximately −1,000 ppm/K. Overall, ternary perovskite solid solutions based on adding Bi(Zn1/2Ti1/2)O3 – BiInO3 to BaTiO3 shows excellent potential for high temperature capacitor applications

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Literatur
2.
Zurück zum Zitat R.E. Eitel, C.A. Randall, T.R. Shrout, P.W. Rehrig, W. Hackenberger, S.E. Park, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 40, 5999 (2001)CrossRef R.E. Eitel, C.A. Randall, T.R. Shrout, P.W. Rehrig, W. Hackenberger, S.E. Park, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 40, 5999 (2001)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat I. Grinberg, M.R. Suchomel, P.K. Davies, A.M. Rappe, J. Appl. Phys. 98, 094111 (2005)CrossRef I. Grinberg, M.R. Suchomel, P.K. Davies, A.M. Rappe, J. Appl. Phys. 98, 094111 (2005)CrossRef
5.
6.
Zurück zum Zitat I. Grinberg, M.R. Suchomel, W. Dmowski, S. E. Mason., H. Wu, P. K. Davies, and A. M. Rappe. Phys. Rev. Lett. 98, 107601 (2007)CrossRef I. Grinberg, M.R. Suchomel, W. Dmowski, S. E. Mason., H. Wu, P. K. Davies, and A. M. Rappe. Phys. Rev. Lett. 98, 107601 (2007)CrossRef
7.
8.
Zurück zum Zitat C.A. Randall, R. Eitel, B. Jones, T.R. Shrout, D.I. Woodward, I.R. Reaney, J. Appl. Phys. 95, 3633 (2004)CrossRef C.A. Randall, R. Eitel, B. Jones, T.R. Shrout, D.I. Woodward, I.R. Reaney, J. Appl. Phys. 95, 3633 (2004)CrossRef
9.
Zurück zum Zitat S.M. Choi, C.J. Stringer, T.R. Shrout, C.A. Randall, J. Appl. Phys. 95, 034108 (2005)CrossRef S.M. Choi, C.J. Stringer, T.R. Shrout, C.A. Randall, J. Appl. Phys. 95, 034108 (2005)CrossRef
10.
Zurück zum Zitat R.E. Eitel, C.A. Randall, T.R. Shrout, S.E. Park, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 1999 (2002)CrossRef R.E. Eitel, C.A. Randall, T.R. Shrout, S.E. Park, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 1999 (2002)CrossRef
11.
Zurück zum Zitat A. Sehirlioglu, A. Sayir, F. Dynys, J. Appl. Phys. 106, 014102 (2009)CrossRef A. Sehirlioglu, A. Sayir, F. Dynys, J. Appl. Phys. 106, 014102 (2009)CrossRef
12.
Zurück zum Zitat R. Duan, R.F. Speyer, E. Alberta, T.R. Shrout, J. Mater. Res. 19, 2185 (2004)CrossRef R. Duan, R.F. Speyer, E. Alberta, T.R. Shrout, J. Mater. Res. 19, 2185 (2004)CrossRef
13.
Zurück zum Zitat S. Zhang, R. Xia, C.A. Randall, T.R. Shrout, R. Duan, R.F. Speyer, J. Mater. Res. 20, 2067 (2005)CrossRef S. Zhang, R. Xia, C.A. Randall, T.R. Shrout, R. Duan, R.F. Speyer, J. Mater. Res. 20, 2067 (2005)CrossRef
14.
Zurück zum Zitat H. Ogihara, C.A. Randall, S. Trolier-McKinstry, J. Am. Ceram. Soc. 92, 110 (2009)CrossRef H. Ogihara, C.A. Randall, S. Trolier-McKinstry, J. Am. Ceram. Soc. 92, 110 (2009)CrossRef
15.
16.
Zurück zum Zitat N. Raengthon, D.P. Cann, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 58, 1954 (2011)CrossRef N. Raengthon, D.P. Cann, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 58, 1954 (2011)CrossRef
18.
19.
Zurück zum Zitat R. Dittmer, W. Jo, D. Damjanovic, J. Rodel, J. Appl. Phys. 109, 034107 (2011)CrossRef R. Dittmer, W. Jo, D. Damjanovic, J. Rodel, J. Appl. Phys. 109, 034107 (2011)CrossRef
20.
Zurück zum Zitat P. Jarupoom, E. Patterson, B. Gibbons, G. Rujijanagul, R. Yimnirun, D. Cann, Appl. Phys. Lett. 99, 152901 (2011)CrossRef P. Jarupoom, E. Patterson, B. Gibbons, G. Rujijanagul, R. Yimnirun, D. Cann, Appl. Phys. Lett. 99, 152901 (2011)CrossRef
21.
Zurück zum Zitat J.B. Lim, S. Zhang, N. Kim, T.R. Shrout, J. Am. Ceram. Soc. 92, 679 (2009)CrossRef J.B. Lim, S. Zhang, N. Kim, T.R. Shrout, J. Am. Ceram. Soc. 92, 679 (2009)CrossRef
22.
Zurück zum Zitat C.-C. Huang, D.P. Cann, X. Tan, N. Vittayakorn, J. Appl. Phys. 102, 044103 (2007)CrossRef C.-C. Huang, D.P. Cann, X. Tan, N. Vittayakorn, J. Appl. Phys. 102, 044103 (2007)CrossRef
23.
Zurück zum Zitat D. Viehland, D. Forst, Z. Xu, J.-F. Li, J. Am. Ceram. Soc. 78, 2101 (1995)CrossRef D. Viehland, D. Forst, Z. Xu, J.-F. Li, J. Am. Ceram. Soc. 78, 2101 (1995)CrossRef
24.
Zurück zum Zitat J.B. Lim, S. Zhang, N. Kim, T.R. Shrout, J. Am. Ceram. Soc. 93, 679 (2009)CrossRef J.B. Lim, S. Zhang, N. Kim, T.R. Shrout, J. Am. Ceram. Soc. 93, 679 (2009)CrossRef
25.
Zurück zum Zitat S. Zhang, E.F. Alberta, R.E. Eitel, C.A. Randall, T.R. Shrout, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 52, 2131 (2005)CrossRef S. Zhang, E.F. Alberta, R.E. Eitel, C.A. Randall, T.R. Shrout, IEEE Trans. Ultrason. Ferroelectr. Freq. Control 52, 2131 (2005)CrossRef
Metadaten
Titel
High temperature electronic properties of BaTiO3 – Bi(Zn1/2Ti1/2)O3 – BiInO3 for capacitor applications
verfasst von
Natthaphon Raengthon
David P. Cann
Publikationsdatum
01.05.2012
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electroceramics / Ausgabe 2-3/2012
Print ISSN: 1385-3449
Elektronische ISSN: 1573-8663
DOI
https://doi.org/10.1007/s10832-012-9700-0

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