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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 5/2005

01.10.2005

Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories

verfasst von: Luigi Dilillo, Patrick Girard, Serge Pravossoudovitch, Arnaud Virazel, Simone Borri, Magali Hage-Hassan

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 5/2005

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Metadaten
Titel
Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories
verfasst von
Luigi Dilillo
Patrick Girard
Serge Pravossoudovitch
Arnaud Virazel
Simone Borri
Magali Hage-Hassan
Publikationsdatum
01.10.2005
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 5/2005
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-005-1169-1

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