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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 7/2012

01.07.2012

Microwave dielectric properties and microstructures of Nd(Mg0.5−xCoxSn0.5)O3 ceramics

verfasst von: Yih-Chien Chen, Shi-Li Yao, Chung-Yen Wu

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 7/2012

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Abstract

This study elucidates the microwave dielectric properties and microstructures of Nd(Mg0.5−xCoxSn0.5)O3 ceramics with a view to their potential for microwave devices. The Nd(Mg0.5−xCoxSn0.5)O3 ceramics were prepared by the conventional solid-state method with various sintering temperatures. The X-ray diffraction patterns of the Nd(Mg0.45Co0.05Sn0.5)O3 ceramics revealed no significant variation of phase with sintering temperatures. A dielectric constant (ɛ r ) of 19.2, a quality factor (Q × f) of 68,900 GHz, and a temperature coefficient of resonant frequency (τ f ) of −67 ppm/°C were obtained for Nd(Mg0.45Co0.05Sn0.5)O3 ceramics that were sintered at 1,550 °C for 4 h.
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Metadaten
Titel
Microwave dielectric properties and microstructures of Nd(Mg0.5−xCoxSn0.5)O3 ceramics
verfasst von
Yih-Chien Chen
Shi-Li Yao
Chung-Yen Wu
Publikationsdatum
01.07.2012
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 7/2012
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-011-0591-7

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