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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2/2013

01.02.2013

The effects of yttrium substitution in Bi-2223 superconductors

verfasst von: Berdan Özkurt

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 2/2013

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Abstract

Bi1.7−xYxPb0.3Sr2Ca2Cu3Oy (x = 0, 0.05, 0.1 and 0.25) samples were prepared by a conventional solid state reaction method. The influence of Y on structural and superconducting properties has been investigated by XRD measurements, scanning electron microscopy (SEM), dc electrical resistivity, Vickers hardness and magnetic-hysteresis loop measurements. SEM micrographs show that the best surface morphology and largest grain size are observed for undoped samples. The critical transition temperatures of the samples decrease with the increase in the Y content. Jc values of the samples, obtained from Bean’s model, show that Jc decreases with increasing Y content. The mechanical properties of the samples, measured by Vickers hardness (Hv), were found to be load dependent.
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Metadaten
Titel
The effects of yttrium substitution in Bi-2223 superconductors
verfasst von
Berdan Özkurt
Publikationsdatum
01.02.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 2/2013
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-012-0806-6

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