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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 6/2013

01.06.2013

Microwave dielectric properties of low temperature sinterable RE2Mo4O15 (RE = Nd, Sm) ceramics for LTCC applications

verfasst von: A. Surjith, E. K. Suresh, S. Freddy, R. Ratheesh

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 6/2013

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Abstract

The present paper investigates the structure and microwave dielectric properties of novel low temperature sinterable RE2Mo4O15 (RE = Nd, Sm) ceramic system. Phase pure ceramics were prepared through solid state ceramic method. The powder X-ray diffraction patterns show that these materials have triclinic crystal structure with space group PĪ. The title compounds are well densified around 690 °C. The Scanning Electron Microscopic image reveals dense microstructure for the well sintered ceramic compacts. Nd2Mo4O15 ceramic exhibits a dielectric constant of 11.1, an unloaded quality factor of 5,123 at 12 GHz, and a temperature coefficient of resonant frequency (τf) of −44 ppm/ °C. Whereas Sm2Mo4O15 samples possess a dielectric constant of 10.7, unloaded quality factor of 5,468 at 11.6046 GHz together with a temperature coefficient of resonant frequency (τf) of −50 ppm/°C. Both the ceramic systems under study show good chemical compatibility with silver electrode.

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Metadaten
Titel
Microwave dielectric properties of low temperature sinterable RE2Mo4O15 (RE = Nd, Sm) ceramics for LTCC applications
verfasst von
A. Surjith
E. K. Suresh
S. Freddy
R. Ratheesh
Publikationsdatum
01.06.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 6/2013
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-012-1018-9

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