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Journal of Electroceramics
Erschienen in: Journal of Electroceramics 2-4/2006

01.12.2006 | 3. Nanomaterials and synthesis

Reliability assessment of indium tin oxide thin films by accelerated degradation test

verfasst von: Yong-Nam Kim, Seong-Min Jeong, Min-Seok Jeon, Hyun-Gyoo Shin, Jun-Kwang Song, Hee-Soo Lee

Erschienen in: Journal of Electroceramics | Ausgabe 2-4/2006

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Metadaten
Titel
Reliability assessment of indium tin oxide thin films by accelerated degradation test
verfasst von
Yong-Nam Kim
Seong-Min Jeong
Min-Seok Jeon
Hyun-Gyoo Shin
Jun-Kwang Song
Hee-Soo Lee
Publikationsdatum
01.12.2006
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Electroceramics / Ausgabe 2-4/2006
Print ISSN: 1385-3449
Elektronische ISSN: 1573-8663
DOI
https://doi.org/10.1007/s10832-006-8337-2

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